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国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2007/114373 国際出願番号: PCT/JP2007/057215
国際公開日: 11.10.2007 国際出願日: 30.03.2007
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28
電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
出願人: WATANABE, Yuya[JP/JP]; JP (UsOnly)
SUGAMORI, Shigeru[JP/JP]; JP (UsOnly)
YAMOTO, Hiroaki[JP/US]; US (UsOnly)
ADVANTEST CORPORATION[JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
発明者: WATANABE, Yuya; JP
SUGAMORI, Shigeru; JP
YAMOTO, Hiroaki; US
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1631105, JP
優先権情報:
11/394,81431.03.2006US
発明の名称: (EN) TEST METHOD, TEST SYSTEM, AND AUXILIARY SUBSTRATE
(FR) procédé d'essai, système d'essai et substrat auxiliaire
(JA) テスト方法、テストシステムおよび補助基板
要約:
(EN) Provided is a test method for testing a device under test by using an event tester. The method includes: a write-in step for receiving a test signal generated by an invent tester to be applied to a device under test and successively writing the test signal into a memory; an application step for successively reading the written-in test signal at a speed higher than the speed of the test signal generated by the event tester and applying it to the device under test; an acquisition step for acquiring an output signal outputted from the device under test in response to the applied test signal and successively writing it into the memory at a speed higher than the test signal generated by the event tester; a read-out step for successively reading out the written-in output signal from the memory and transmitting it to the event tester at a speed lower than the speed of the output signal outputted from the device under test; and a quality judging step for judging whether the transmitted output signal is good by the event tester.
(FR) L'invention concerne un procédé d'essai pour essayer un dispositif en cours d'essai en utilisant un détecteur de pannes. Le procédé comprend : une étape d'écriture pour recevoir un signal d'essai généré par un testeur inventé à appliquer sur un dispositif en cours d'essai et écrire successivement le signal d'essai dans une mémoire ; une étape d'application pour lire successivement le signal d'essai écrit à une vitesse supérieure à la vitesse du signal d'essai généré par le testeur d'événement et l'appliquer au dispositif en cours d'essai ; une étape d'acquisition pour acquérir un signal de sortie produit par le dispositif en cours d'essai en réponse au signal d'essai appliqué et l'écrire successivement dans la mémoire à une vitesse supérieure au signal d'essai généré par le testeur d'événement ; une étape d'extraction pour extraire successivement le signal de sortie écrit de la mémoire et le transmettre au testeur d'événement à une vitesse inférieure à la vitesse du signal de sortie produit par le dispositif en cours d'essai ; et une étape d'évaluation de qualité pour que le testeur d'événement évalue si le signal de sortie transmis est correct.
(JA)  イベントテスタを用いて被試験デバイスをテストするテスト方法であって、イベントテスタにより発生された被試験デバイスに印加するテスト信号を受けて、メモリに順次書き込む書込ステップと、書き込まれたテスト信号を、イベントテスタにより発生されたテスト信号の速度より高速で順次メモリから読み出して、被試験デバイスに印加する印加ステップと、印加されたテスト信号に応答して被試験デバイスから出力される出力信号を取得して、イベントテスタにより発生されたテスト信号の速度より高速でメモリに順次書き込む取得ステップと、書き込まれた出力信号をメモリから順次読み出して、被試験デバイスから出力される出力信号の速度より低速でイベントテスタに送る読出ステップと、送られた出力信号をイベントテスタにより良否判定する良否判定ステップとを備えるテスト方法を提供する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)