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1. (WO2007114206) 被試験信号解析装置

Pub. No.:    WO/2007/114206    International Application No.:    PCT/JP2007/056769
Publication Date: Fri Oct 12 01:59:59 CEST 2007 International Filing Date: Fri Mar 30 01:59:59 CEST 2007
IPC: G01R 31/319
G06F 11/22
Applicants: ANRITSU CORPORATION
アンリツ株式会社
WADA, Takeshi
和田 健
IMAZEKI, Hajime
今関 肇
MIYAMOTO, Takashi
宮本 隆志
Inventors: WADA, Takeshi
和田 健
IMAZEKI, Hajime
今関 肇
MIYAMOTO, Takashi
宮本 隆志
Title: 被試験信号解析装置
Abstract:
 本発明は、誤り率の高い試験パターンやビット誤りの要因となる試験パターンを従来のものより容易に特定することができる被試験信号解析装置を提供することを目的とする。  本発明の試験信号発生装置は、被試験信号を解析し、解析結果を表示装置21に表示させる被試験信号解析装置4において、被試験信号に対して設定した解析区間を分割してなる分割区間毎に解析結果を統計する解析結果統計部34と、解析結果統計部34による統計結果を分割区間毎に表示装置21に表示させる表示制御部23とを備え、分割区間が新たな解析区間として指定された場合には、解析結果統計部34が、当該新たな解析区間を分割した新たな分割区間毎に被試験信号の解析結果を統計し、表示制御部23が、新たな分割区間毎に解析結果統計部34による統計結果を表示装置21に表示させる。