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1. (WO2007114206) 被試験信号解析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/114206    国際出願番号:    PCT/JP2007/056769
国際公開日: 11.10.2007 国際出願日: 29.03.2007
IPC:
G01R 31/319 (2006.01), G06F 11/22 (2006.01)
出願人: ANRITSU CORPORATION [JP/JP]; 5-1-1, Onna, Atsugi-shi Kanagawa 2438555 (JP) (米国を除く全ての指定国).
WADA, Takeshi; (米国のみ).
IMAZEKI, Hajime; (米国のみ).
MIYAMOTO, Takashi; (米国のみ)
発明者: WADA, Takeshi; .
IMAZEKI, Hajime; .
MIYAMOTO, Takashi;
代理人: ARIGA, Gunichiro; Yamada Building 1-1-14, Shinjuku, Shinjuku-ku Tokyo 1600022 (JP)
優先権情報:
2006-098790 31.03.2006 JP
発明の名称: (EN) SIGNAL-UNDER-TEST ANALYZING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE D'UN SIGNAL TESTÉ
(JA) 被試験信号解析装置
要約: front page image
(EN)It is possible to provide a signal-under-test analyzing device capable of identifying a test pattern having a high error ratio or a test pattern causing a bit error easily as compared in the prior art. The signal-under-test analyzing device (4) for analyzing a signal under test and causing a display device (21) to display the analysis result includes a test signal generation device having: an analysis result statistical unit (34) for statistically processing the analysis result for each division obtained by dividing the analysis section set for the signal under test; and a display control unit (23) causing the display device (21) to display the statistical result obtained by the analysis result statistical unit (34) for each of divisions. When a division is specified as a new analysis section, the analysis result statistical unit (34) statistically processes an analysis result of the signal under test for each new division obtained by dividing the new analysis section and the display control unit (23) causes the display device (21) to display the statistical result obtained by the analysis result statistical unit (34) for each new division.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'analyse d'un signal de contrôle permettant d'identifier une séquence de test présentant un taux d'erreurs important ou une séquence de test entraînant une erreur binaire plus facilement que dans l'état de la technique. Le dispositif d'analyse (4) de signal testé permet d'analyser un signal testé et d'afficher sur un dispositif d'affichage (21) le résultat de l'analyse. Il comprend un dispositif générateur de signal de contrôle comportant un module de traitement statistique (34) de résultat d'analyse servant à réaliser le traitement statistique du résultat d'analyse pour chaque division obtenue en divisantun ensemble de segments d'analyse défini pour le signal testé; et un module de commande d'affichage (23) amenant le dispositif d'affichage (21) à afficher le résultat statistique obtenu pour chacune des divisions par le module de traitement statistique (34) de résultat d'analyse. Lorsqu'une division est spécifiée comme un nouveau segment d'analyse, le module de traitement statistique (34) de résultat d'analyse réalise le traitement statistique d'un résultat d'analyse du signal testé pour chaque nouvelle division obtenue en divisant le nouveau segment d'analyse, et le module de commande d'affichage (23) amène le dispositif d'affichage (21) à afficher le résultat statistique obtenu pour chaque nouvelle division par le module de traitement statistique (34) de résultat d'analyse.
(JA) 本発明は、誤り率の高い試験パターンやビット誤りの要因となる試験パターンを従来のものより容易に特定することができる被試験信号解析装置を提供することを目的とする。  本発明の試験信号発生装置は、被試験信号を解析し、解析結果を表示装置21に表示させる被試験信号解析装置4において、被試験信号に対して設定した解析区間を分割してなる分割区間毎に解析結果を統計する解析結果統計部34と、解析結果統計部34による統計結果を分割区間毎に表示装置21に表示させる表示制御部23とを備え、分割区間が新たな解析区間として指定された場合には、解析結果統計部34が、当該新たな解析区間を分割した新たな分割区間毎に被試験信号の解析結果を統計し、表示制御部23が、新たな分割区間毎に解析結果統計部34による統計結果を表示装置21に表示させる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)