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1. (WO2007110900) 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2007/110900 国際出願番号: PCT/JP2006/305978
国際公開日: 04.10.2007 国際出願日: 24.03.2006
IPC:
G01N 29/44 (2006.01)
出願人: HATANAKA, Hiroaki[JP/JP]; JP (UsOnly)
IDO, Nobukazu[JP/JP]; JP (UsOnly)
TAGAMI, Minoru[JP/JP]; JP (UsOnly)
IHI Corporation[JP/JP]; 1-1, Toyosu 3-chome, Koto-ku, Tokyo 1358710, JP (AllExceptUS)
発明者: HATANAKA, Hiroaki; JP
IDO, Nobukazu; JP
TAGAMI, Minoru; JP
代理人: SHIGA, Masatake; 2-3-1, Yaesu, Chuo-ku, Tokyo 1048453, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) DEFECT INSPECTING DEVICE, AND DEFECT INSPECTING METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE D'INSPECTION DE DEFAUTS
(JA) 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
要約: front page image
(EN) Provided is a defect inspecting device for quantitatively evaluating the distribution of defects to occur in an object material. The defect inspecting device comprises an ultrasonic probe, ultrasonic wave transmitting/receiving means for emitting ultrasonic waves through the ultrasonic probe to the surface of the object material having a predetermined transmitting medium, and for receiving the ultrasonic waves scattered by the defects existing in the object material, as noise signals, frequency spectrum calculating means for time-dividing the noise signals with a time width corresponding to the position of the object material in a depth direction, and for calculating a frequency spectrum for each of the time-divided noise signals, and defect distribution detecting means for calculating a value indicating the progress of the defect corresponding to the position of the object material in the depth direction, on the basis of the frequency spectrum.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'inspection de défauts destiné à évaluer quantitativement la répartition de défauts se trouvant dans un matériau objet. Ledit dispositif comprend une sonde à ultrasons, des moyens d'émission/réception d'ondes ultrasonores destinés à émettre des ondes ultrasonores par l'intermédiaire de ladite sonde vers la surface du matériau objet comportant un milieu émetteur prédéterminé et à recevoir les ondes ultrasonores diffusées par les défauts se trouvant dans ledit matériau, sous forme de signaux de bruit, des moyens de calcul du spectre de fréquence destinés à diviser dans le temps lesdits signaux sur une durée correspondant à la position dudit matériau dans un sens de la profondeur et à calculer un spectre de fréquence pour chacun des signaux de bruit divisé dans le temps, et des moyens de détection de la répartition des défauts destinés à calculer une valeur indiquant la progression du défaut correspondant à la position dudit matériau dans le sens de la profondeur, sur la base du spectre de fréquence.
(JA)  本発明は、被検査材料の内部に発生する欠陥の分布を定量的に評価することを目的とする。  本発明では、この目的を達成するために、超音波探触子と、当該超音波探触子を介して、所定の伝播媒質が設けられた被検査材料の表面に超音波を入射する一方、前記被検査材料の内部に存在する欠陥によって散乱した超音波をノイズ信号として受信する超音波送受信手段と、前記ノイズ信号を、前記被検査材料の深さ方向の位置に対応する時間幅で時分割し、当該時分割したノイズ信号毎に周波数スペクトルを算出する周波数スペクトル算出手段と、前記周波数スペクトルに基づいて前記被検査材料の深さ方向の位置に対応する欠陥の進行度を示す値を算出する欠陥分布検出手段とを具備する。                                       
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)