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1. WO2007108252 - ICソケット及び半導体集積回路試験装置

公開番号 WO/2007/108252
公開日 27.09.2007
国際出願番号 PCT/JP2007/052377
国際出願日 09.02.2007
IPC
G01R 31/26 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26個々の半導体装置の試験
G01R 31/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
CPC
G01R 31/2889
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
2889Interfaces, e.g. between probe and tester
出願人
  • 株式会社テクノセム研究所 TECHNO-SEM Laboratory Co., LTD. [JP/JP]; 〒1940215 東京都町田市小山ヶ丘二丁目2番地5 Tokyo 2-5, Oyamagaoka 2-chome, Machida-shi, Tokyo 1940215, JP (AllExceptUS)
  • 石田 治英 ISHIDA, Michihide [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者
  • 石田 治英 ISHIDA, Michihide; JP
代理人
  • 志賀 正武 SHIGA, Masatake; 〒1048453 東京都中央区八重洲2丁目3番1号 Tokyo 2-3-1, Yaesu, Chuo-ku, Tokyo 1048453, JP
優先権情報
2006-07485917.03.2006JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) IC SOCKET AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS
(FR) PRISE A CI ET APPAREIL DE TEST DE CIRCUIT INTEGRE A SEMI-CONDUCTEURS
(JA) ICソケット及び半導体集積回路試験装置
要約
(EN)
The number of objects to be tested by parallel testing is increased from that in conventional cases without increasing the sizes of an apparatus nor making a test program complicated. An IC socket for removably mounting a device to be measured on a test board is provided with a test signal generating section, which generates a test signal based on a control instruction from a testing apparatus main body and outputs the signal to the device to be measured.
(FR)
La présente invention concerne plusieurs objets à tester par un test parallèle dont le nombre est augmenté par rapport à celui dans les cas conventionnels, sans augmenter la taille d'un appareil ni compliquer un programme de test. Une prise à CI, destinée à monter de manière amovible un dispositif à mesurer sur une carte de test, est munie d'une section de génération de signal de test, qui génère un signal de test basé sur une instruction de commande d'un corps principal d'un appareil de test et produit le signal au dispositif à mesurer.
(JA)
 この発明は、装置の大型化やテストプログラムの複雑化を来たすことなく並列試験個数を従来よりも増大させることを目的とする。  この発明は、このような目的を達成するために、被測定デバイスをテストボード上に着脱自在に実装するICソケットにおいて、試験装置本体からの制御指令に基づいて試験用信号を発生して被測定デバイスに出力する試験用信号発生部を備える、という解決手段を採用する。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報