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1. WO2007105771 - 表面プラズモン共鳴センサ用チップおよび表面プラズモン共鳴センサ

公開番号 WO/2007/105771
公開日 20.09.2007
国際出願番号 PCT/JP2007/055134
国際出願日 14.03.2007
予備審査請求日 03.08.2007
IPC
G01N 21/27 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27光電検出器を用いるもの
CPC
G01J 3/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
02Details
G01J 3/0256
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
02Details
0256Compact construction
G01J 3/0294
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
02Details
0294Multi-channel spectroscopy
G01N 21/553
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
55Specular reflectivity
552Attenuated total reflection
553and using surface plasmons
出願人
  • オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP/JP]; 〒6008530 京都府京都市下京区塩小路通堀川東入南不動堂町801番地 Kyoto 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530, JP (AllExceptUS)
  • 松下 智彦 MATSUSHITA, Tomohiko [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 山下 英之 YAMASHITA, Hideyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 西川 武男 NISHIKAWA, Takeo [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • MORIYAMA, Megumi [JP/US]; US (UsOnly)
  • 蓮井 亮介 HASUI, Ryosuke [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 青山 茂 AOYAMA, Shigeru [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者
  • 松下 智彦 MATSUSHITA, Tomohiko; JP
  • 山下 英之 YAMASHITA, Hideyuki; JP
  • 西川 武男 NISHIKAWA, Takeo; JP
  • MORIYAMA, Megumi; US
  • 蓮井 亮介 HASUI, Ryosuke; JP
  • 青山 茂 AOYAMA, Shigeru; JP
代理人
  • 中野 雅房 NAKANO, Masayoshi; 〒5400012 大阪府大阪市中央区谷町1丁目3番5号 オグラ天満橋ビル Osaka Ogura Temmabashi Building 3-5, Tanimachi 1-chome Chuo-ku, Osaka-shi Osaka 5400012, JP
優先権情報
2006-07183215.03.2006JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) CHIP FOR SURFACE PLASMON RESONANCE SENSOR AND SURFACE PLASMON RESONANCE SENSOR
(FR) PUCE DESTINEE A UN CAPTEUR DE RESONANCE DE PLASMONS DE SURFACE ET CAPTEUR DE RESONANCE DE PLASMONS DE SURFACE
(JA) 表面プラズモン共鳴センサ用チップおよび表面プラズモン共鳴センサ
要約
(EN)
A metal layer (13) of Au or the like, is formed on the upper surface of a transparent substrate (12). Dielectric layers (14a, 14b, 14c) having different thicknesses (provided that the thickness of one of the dielectric layers may be zero) are formed on the upper surface of the metal layer (13) to constitute measurement regions (15a, 15b, 15c). A different kind of antibody (22a, 22b, 22c) is fixed to the upper surface of each dielectric layer (14a, 14b, 14c). Each measurement region (15a, 15b, 15c) is irradiated with light and reflected light is received, and then a signal obtained through spectroscopy is analyzed, thus detecting the surface state of each measurement region simultaneously.
(FR)
La présente invention concerne une couche métallique (13) d'Au, ou autre élément semblable, formée sur la surface supérieure d'un substrat transparent (12). Des couches diélectriques (14a, 14b, 14c) présentant des épaisseurs différentes (à condition que l'épaisseur de l'une des couches diélectriques puisse être égale à zéro) sont formées sur la surface supérieure de la couche métallique (13) afin de constituer des zones de mesure (15a, 15b, 15c). Un autre type d'anticorps (22a, 22b, 22c) est fixé à la surface supérieure de chaque couche diélectrique (14a, 14b, 14c). Chaque zone de mesure (15a, 15b, 15c) est exposée à la lumière et la lumière réfléchie est reçue, puis un signal obtenu par spectroscopie est analysé, ce qui permet de détecter simultanément l'état de la surface de chaque zone de mesure.
(JA)
 透明基板12の上面にはAu等の金属層13を形成している。金属層13の上面には互いに厚みの異なる誘電体層14a、14b、14c(いずれか1つの誘電体層の厚みはゼロであってもよい。)を形成してそれぞれ測定領域15a、15b、15cを構成している。また、各誘電体層14a、14b、14cの上面には異なる種類の抗体22a、22b、22cを固定化する。そして、光を照射して測定領域15a、15b、15cで反射した信号を受光し、これを分光して得た信号を解析することにより各測定領域の表面状態を同時に検出することができる。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報