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1. (WO2007105578) 誘電泳動による微粒子の状態の測定方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/105578    国際出願番号:    PCT/JP2007/054498
国際公開日: 20.09.2007 国際出願日: 01.03.2007
IPC:
G01N 27/00 (2006.01), G01N 27/447 (2006.01)
出願人: CLUSTER TECHNOLOGY CO., LTD. [JP/JP]; 5-28, Shibukawa-cho 4-chome, Higashiosaka-shi, Osaka 5770836 (JP) (米国を除く全ての指定国).
OSAKA UNIVERSITY [JP/JP]; 1-1, Yamadaoka, Suita-shi, Osaka 5650871 (JP) (米国を除く全ての指定国).
ADACHI, Minoru [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KUBOI, Ryoichi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KODERA, Fuji [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SHIMANOUCHI, Toshinori [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: ADACHI, Minoru; (JP).
KUBOI, Ryoichi; (JP).
KODERA, Fuji; (JP).
SHIMANOUCHI, Toshinori; (JP)
代理人: NANJO, Hiromichi; 5th Floor, Okina Bldg., 2-9, Nishitenma 3-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300047 (JP)
優先権情報:
2006-065872 10.03.2006 JP
発明の名称: (EN) METHOD FOR MEASURING STATE OF FINE PARTICLES BY DIELECTRIC MIGRATION
(FR) PROCEDE PERMETTANT DE MESURER L'ETAT DE FINES PARTICULES A L'AIDE D'UNE MIGRATION DIELECTRIQUE
(JA) 誘電泳動による微粒子の状態の測定方法
要約: front page image
(EN)This invention provides a method for measuring the state of fine particles, comprising the steps of: introducing a fine particle-containing sample into a dielectric migration liquid and measuring the position Ro of the fine particles; generating a heterogeneous electric field in the fine particles in the dielectric migration liquid and measuring the position Rt of the fine particles after t sec; calculating dielectric migration mobility from the positions Ro and Rt of the fine particles; and correlating the above state with the calculated dielectric migration mobility. Here the term “state” refers to at least one of the structure of a surface functional group, the specificity of the surface, potential of the surface, the size, the shape, the activity, the internal ion level distribution, the internal ion component, the internal composition, and the internal structure. The method can simultaneously measure the state of fine particles such as surface properties and internal structure of the fine particles, for example, the activity and life and death of cells.
(FR)La présente invention concerne un procédé, permettant de mesurer l'état de fines particules, qui comprend les étapes consistant à : introduire un échantillon contenant de fines particules dans un liquide de migration diélectrique et mesurer la position Ro des fines particules; générer un champ électrique hétérogène dans les fines particules se trouvant dans le liquide de migration diélectrique et mesurer la position Rt des fines particules au bout de t sec; calculer la mobilité de la migration diélectrique à partir des positions Ro et Rt des fines particules; et corréler l'état susmentionné avec la mobilité de migration diélectrique calculée. Dans ce cas-ci, le terme “état” se réfère à l'une au moins des structures d'un groupe fonctionnel de surface, la spécificité de la surface, le potentiel de la surface, la taille, la forme, l'activité, la distribution du niveau d'ions interne, le composé ionique interne, la composition interne et la structure interne. Le procédé peut mesurer simultanément l'état de fines particules tel que les propriétés de la surface et la structure interne des fines particules, par exemple, l'activité ainsi que la vie et la mort des cellules.
(JA)本発明の微粒子の状態を測定する方法は、微粒子を含む試料を誘電泳動液中に導入し、該微粒子の位置Rを測定する工程;該誘電泳動液中の該微粒子に対して不均一電界を発生させ、t秒後の該微粒子の位置Rtを測定する工程;該得られた微粒子の位置RおよびRtから、誘電泳動移動度を算出する工程;および該状態と該算出された誘電泳動移動度とを相関させる工程;を含む。ここで、状態とは、表面の官能基の構造、表面の特異性、表面の電位、大きさ、形状、活性、内部のイオン量分布、内部のイオン成分、内部の組成、および内部の構造からなる群より選択される少なくとも1つである。本発明の方法によれば、微粒子の表面特性および内部構造などの微粒子の状態、例えば、細胞の活性度や生死などを一体的に測定することができる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)