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1. WO2007105563 - 電子デバイス、試験装置、及び試験方法

公開番号 WO/2007/105563
公開日 20.09.2007
国際出願番号 PCT/JP2007/054449
国際出願日 07.03.2007
IPC
G01R 31/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
CPC
G01R 31/3191
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31903tester configuration
31908Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns
3191Calibration
G01R 31/31926
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
31926Routing signals to or from the device under test [DUT], e.g. switch matrix, pin multiplexing
G01R 31/31928
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
31928Formatter
出願人
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 〒1790071 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 Tokyo 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
  • 一山 清隆 ICHIYAMA, Kiyotaka [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 石田 雅裕 ISHIDA, Masahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者
  • 一山 清隆 ICHIYAMA, Kiyotaka; JP
  • 石田 雅裕 ISHIDA, Masahiro; JP
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro; JP
代理人
  • 龍華 明裕 RYUKA, Akihiro; 〒1631105 東京都新宿区西新宿6-22-1 新宿スクエアタワー5階 Tokyo 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1631105, JP
優先権情報
11/371,93910.03.2006US
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) ELECTRONIC DEVICE, TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD
(FR) DISPOSITIF ELECTRONIQUE, APPAREIL DE TEST ET PROCEDE DE TEST
(JA) 電子デバイス、試験装置、及び試験方法
要約
(EN)
An electronic device is provided with an operation circuit for outputting an output signal to be tested or evaluated. The electronic device is also provided with a demodulator for receiving the output signal from the operation circuit and outputting a demodulation signal wherein the phase modulation component or the frequency modulation component of the output signal is demodulated.
(FR)
Un dispositif électronique est équipé d'un circuit fonctionnel produisant un signal de sortie à tester ou à évaluer. Le dispositif électronique est également équipé d'un démodulateur recevant le signal de sortie du circuit fonctionnel et produisant en sortie un signal de démodulation où la composante de modulation de phase ou la composante de modulation de fréquence du signal de sortie est démodulée.
(JA)
 試験又は評価の対象となる出力信号を出力する動作回路と、動作回路から出力信号を受け取り、出力信号の位相変調成分又は周波数変調成分を復調した復調信号を出力する復調器とを備える電子デバイスを提供する。
他の公開
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