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1. WO2007105562 - キャリブレーション装置、試験装置、キャリブレーション方法、及び試験方法

公開番号 WO/2007/105562
公開日 20.09.2007
国際出願番号 PCT/JP2007/054448
国際出願日 07.03.2007
IPC
G01R 31/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
CPC
G01R 29/26
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
29Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
26Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio ; Measuring jitter, i.e. phase noise,
G01R 31/31709
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31708Analysis of signal quality
31709Jitter measurements; Jitter generators
H04L 1/205
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
1Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
20using signal quality detector
205jitter monitoring
出願人
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 〒1790071 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 Tokyo 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
  • 一山 清隆 ICHIYAMA, Kiyotaka [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 石田 雅裕 ISHIDA, Masahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者
  • 一山 清隆 ICHIYAMA, Kiyotaka; JP
  • 石田 雅裕 ISHIDA, Masahiro; JP
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro; JP
代理人
  • 龍華 明裕 RYUKA, Akihiro; 〒1631105 東京都新宿区西新宿6-22-1 新宿スクエアタワー5階 Tokyo 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1631105, JP
優先権情報
11/371,84910.03.2006US
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) CALIBRATION APPARATUS, TESTING APPARATUS, CALIBRATION METHOD AND TESTING METHOD
(FR) APPAREIL DE CALIBRATION, APPAREIL DE TEST, PROCEDE DE CALIBRATION ET PROCEDE DE TEST
(JA) キャリブレーション装置、試験装置、キャリブレーション方法、及び試験方法
要約
(EN)
A calibration apparatus is provided for calibrating an electronic device which outputs a demodulation signal obtained by demodulating the modulation component of a signal to be tested or evaluated. The calibration apparatus is provided with a direct current component detecting section for detecting the direct current component of a demodulation signal; a gain calculating section for calculating the gain of the electronic device, based on the direct current component of the demodulation signal; and a calibration section for calibrating the electronic device, based on the gain of the electronic device.
(FR)
L'invention concerne un appareil de calibration pour calibrer un dispositif électronique qui produit un signal de démodulation obtenu en démodulant la composante de modulation d'un signal à tester ou à évaluer. L'appareil de calibration est équipé d'une section de détection de composante de courant continu pour détecter la composante de courant continu d'un signal de démodulation, d'une section de calcul de gain pour calculer le gain du dispositif électronique, basée sur la composante de courant continu du signal de démodulation, et une section de calibration pour calibrer le dispositif électronique, basée sur le gain du dispositif électronique.
(JA)
 試験又は評価の対象となる信号の変調成分を復調した復調信号を出力する電子デバイスに対して、キャリブレーションを行うキャリブレーション装置であって、復調信号の直流成分を検出する直流成分検出部と、復調信号の直流成分に基づいて、電子デバイスにおけるゲインを算出するゲイン算出部と、電子デバイスにおけるゲインに基づいて、電子デバイスに対してキャリブレーションを行うキャリブレーション部とを備えるキャリブレーション装置を提供する。
他の公開
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