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1. (WO2007102485) 試験信号発生装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/102485    国際出願番号:    PCT/JP2007/054284
国際公開日: 13.09.2007 国際出願日: 06.03.2007
IPC:
G01R 31/3183 (2006.01)
出願人: ANRITSU CORPORATION [JP/JP]; 5-1-1, Onna, Atsugi-shi, Kanagawa 2438555 (JP) (米国を除く全ての指定国).
WADA, Takeshi; (米国のみ).
DOHI, Masahiko; (米国のみ)
発明者: WADA, Takeshi; .
DOHI, Masahiko;
代理人: ARIGA, Gunichiro; Yamada Building 1-1-14, Shinjuku, Shinjuku-ku Tokyo 1600022 (JP)
優先権情報:
2006-059411 06.03.2006 JP
発明の名称: (EN) TEST SIGNAL GENERATION DEVICE
(FR) dispositif générateur de signaux de test
(JA) 試験信号発生装置
要約: front page image
(EN)It is possible to provide a test signal generation device capable of generating a test signal for testing a device under test which dynamically transits from a state to another. The test signal generation device includes: a pattern storage unit (20) for storing a plurality of patterns; a pattern selection unit (23) for selecting one pattern from the plurality of patterns; a test signal generation unit (25) for generating a test signal having the pattern selected by the pattern selection unit (23);a trigger signal reception unit (21) for receiving at least one type of trigger signal; and a pattern map storage unit (22) for storing a pattern map indicating the number of times the test signal generation unit (25) repeatedly generates, for each of the patterns, the test signal having the pattern and operation of the pattern selection unit (23) of each type of the trigger signal when a trigger signal is received by the trigger signal reception unit (21) while the test signal generation unit (25) is repeatedly generating the test signal having the pattern.
(FR)Il est possible d'obtenir un dispositif générateur de signaux de test capable de générer un signal de test pour éprouver un dispositif en cours de test qui transite de façon dynamique d'un état à un autre. Le dispositif générateur de signaux de test comprend : une unité de stockage de motifs (20) permettant de stocker une pluralité de motifs ; une unité de sélection de motif (23) permettant de sélectionner un motif parmi la pluralité de motifs ; une unité génératrice de signal de test (25) afin de générer un signal de test présentant le motif sélectionné par l'unité de sélection de motif (23); une unité de réception de signal déclencheur (21) permettant de recevoir au moins un type de signal déclencheur ; et une unité de stockage de carte de motif (22) permettant de stocker une carte de motif indiquant le nombre de fois que l'unité de génération de signaux de test (25) génère de façon répétée, pour chacun des motifs, le signal de test présentant le motif et l'opération de l'unité de sélection de motif (23) de chaque type du signal déclencheur à la réception d'un signal déclencheur par l'unité de réception de signal déclencheur (21) tandis que l'unité génératrice de signal de test (25) génère de façon répétée le signal de test présentant le motif sélectionné.
(JA) 本発明は、動的に状態を遷移する被試験装置を試験するための試験信号を発生することができる試験信号発生装置を提供することを目的とする。  本発明の試験信号発生装置は、複数のパターンを格納するパターン格納部20と、複数のパターンから1つのパターンを選択するパターン選択部23と、パターン選択部23によって選択されたパターンを有する試験信号を発生する試験信号発生部25と、少なくとも1つの種類のトリガ信号を受信するトリガ信号受信部21と、各パターンに対して、該パターンを有する試験信号を試験信号発生部25に繰り返し発生させる回数、および、該パターンを有する試験信号を試験信号発生部25に繰り返し発生させている途中にトリガ信号受信部21にトリガ信号が受信されたときの該トリガ信号の種類毎のパターン選択部23の動作等を表すパターンマップを格納するパターンマップ格納部22とを備える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)