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1. (WO2007102456) 半導体記憶装置とその動作方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/102456    国際出願番号:    PCT/JP2007/054160
国際公開日: 13.09.2007 国際出願日: 05.03.2007
IPC:
G11C 11/15 (2006.01), H01L 21/8246 (2006.01), H01L 27/105 (2006.01), H01L 43/08 (2006.01)
出願人: NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku Tokyo 1088001 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KATOU, Yuukou [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KATOU, Yuukou; (JP)
代理人: KUDOH, Minoru; 6F, KADOYA BLDG., 24-10, Minamiooi 6-chome, Shinagawa-ku Tokyo 1400013 (JP)
優先権情報:
2006-059478 06.03.2006 JP
発明の名称: (EN) SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR OPERATING SAME
(FR) DISPOSITIF DE STOCKAGE A SEMI-CONDUCTEURS ET SON PROCEDE DE FONCTIONNEMENT
(JA) 半導体記憶装置とその動作方法
要約: front page image
(EN)A semiconductor storage device including read blocks (4), third wirings (5), read switches (6), a control circuit (10) and evaluation circuits (8) is used. The read blocks (4) are provided with first wirings (2) arranged in a second direction and extending in a first direction, second wirings (3) extending in the second direction, and resistive storage elements (1) at intersecting points of the first wirings (2) and the second wirings (3). The third wiring (5) extends in the second direction and corresponds to the second wiring (3). The read switch (6) is arranged between the third wiring (5) and the second wiring (3). The control circuit (10) controls the read switch (6) and supplies the first wiring (2) with a current and the like. The evaluation circuit (8) is connected to the third wiring and evaluates a current and the like. In data reading, the control circuit (10) selects a selective read block (4) and a selective first wiring (2) and supply them with a current and the like, and the evaluation circuit (8) evaluates a current and the like in the third wiring.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de stockage à semi-conducteurs comprenant des blocs de lecture (4), des câblages triples (5), des commutateurs de lecture (6), un circuit de commande (10) et des circuits d'évaluation (8). Les blocs de lecture (4) sont fournis avec un premier câblage (2) disposé dans une deuxième direction et se prolongeant dans une première direction, un deuxième câblage (3) se prolongeant dans la deuxième direction et des éléments de stockage résistifs (1) disposés aux points d'intersection des premier (2) et deuxième câblages (3). Le troisième câblage (5) se prolonge dans la deuxième direction et correspond au deuxième câblage (3). Le commutateur de lecture (6) est disposé entre le troisième (5) et le deuxième câblage (3). Le circuit de commande (10) contrôle le commutateur de lecture (6) et alimente le premier câblage (2) en courant et autre. Le circuit d'évaluation (8) est connecté au troisième câblage et évalue un courant et autre. Lors de la lecture de données, le circuit de commande (10) sélectionne un bloc de lecture sélectif (4) et un premier câblage sélectif (2) et leur fournit un courant et autre et le circuit d'évaluation (8) évalue un courant et autre dans le troisième câblage.
(JA) 読出しブロック4、第3配線5、読出しスイッチ6、制御回路10、評価回路8を含む半導体記憶装置を用いる。読出しブロック4は、第2方向に並び、第1方向へ伸びる第1配線2、第2方向に伸びる第2配線3、第1配線2と第2配線3との交点にある抵抗記憶素子1を備える。第3配線5は第2方向へ伸び第2配線3に対応している。読出しスイッチ6は、第3配線5と第2配線3との間にある。制御回路10は、読出しスイッチ6を制御し、第1配線2へ電流等を供給する。評価回路8は、第3配線に接続され、電流等の評価を行う。データの読出しは、制御回路10が選択読出しブロック4及び選択第1配線2を選択して電流等を供給し、評価回路8が第3配線における電流等の評価を行う。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)