WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2007102202) 質量分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/102202    国際出願番号:    PCT/JP2006/304372
国際公開日: 13.09.2007 国際出願日: 07.03.2006
IPC:
H01J 49/14 (2006.01), G01N 27/62 (2006.01)
出願人: Shimadzu Corporation [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KAWANA, Shuichi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SHIMOMURA, Manabu [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KAWANA, Shuichi; (JP).
SHIMOMURA, Manabu; (JP)
代理人: KOBAYASI, Ryohei; KOBAYASI PATENT & TRADEMARK, 7th Floor, Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si Kyoto 6008091 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) MASS ANALYZER
(FR) ANALYSEUR DE MASSE
(JA) 質量分析装置
要約: front page image
(EN)This invention provides an electron impact ion source in a mass analyzer. The entry of electric fields for thermoelectron acceleration, due to a difference in potential between a thermoelectron generating filament (3) and an ionization chamber (2), into the ionization chamber (2) from an electron incidence port (5) can be avoided by disposing the filament (3) at a position distant from the ionization chamber (2). According to the above constitution, an ion take-out electric field formed within the ionization chamber (2) by the voltage applied to a lens electrode (13) is not disturbed, and ions generated within the ionization chamber (2) can be efficiently taken out and can be transported to a mass analyzer disposed after the ionization chamber (2). Consequently, signal intensity in a detector can be improved, and, thus, high-sensitivity mass analysis can be realized.
(FR)Cette invention concerne une source ionique d'impact d'électrons dans un analyseur de masse. L'entrée de champs électriques, en vue d'une accélération thermoélectronique due à une différence de potentiel entre un filament de génération thermoélectronique (3) et une chambre d'ionisation (2), dans la chambre d'ionisation (2), à partir d'un accès d'incidence d'électrons (5), peut être évitée en disposant le filament (3) à une certaine position distante de la chambre d'ionisation (2). Conformément à la constitution ci-dessus, un champ électrique d'extraction d'ions formés à l'intérieur de la chambre d'ionisation (2) par la tension appliquée à une électrode (13) de lentille n'est pas perturbée et les ions générés à l'intérieur de la chambre d'ionisation (2) peuvent être extraits efficacement et peuvent être transportés vers un analyseur de masse placé après la chambre d'ionisation (2). En conséquence, on peut améliorer l'intensité de signal dans un détecteur et, ainsi, on peut réaliser une analyse de masse de sensibilité élevée.
(JA)not available
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)