処理中

しばらくお待ちください...

設定

設定

1. WO2007102202 - 質量分析装置

公開番号 WO/2007/102202
公開日 13.09.2007
国際出願番号 PCT/JP2006/304372
国際出願日 07.03.2006
IPC
H01J 49/14 2006.01
H電気
01基本的電気素子
J電子管または放電ランプ
49粒子分光器または粒子分離管
02細部
10イオン源;イオン銃
14粒子の衝撃を利用するもの,例.電離箱
G01N 27/62 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
CPC
G01N 27/62
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
27Investigating or analysing materials by the use of electric, electro-chemical, or magnetic means
62by investigating the ionisation of gases; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
H01J 49/147
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
49Particle spectrometers or separator tubes
02Details
10Ion sources; Ion guns
14using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
147with electrons, e.g. electron impact ionisation, electron attachment
出願人
  • 株式会社島津製作所 Shimadzu Corporation [JP/JP]; 〒6048511 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 Kyoto 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511, JP (AllExceptUS)
  • 川名 修一 KAWANA, Shuichi [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 下村 学 SHIMOMURA, Manabu [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者
  • 川名 修一 KAWANA, Shuichi; JP
  • 下村 学 SHIMOMURA, Manabu; JP
代理人
  • 小林 良平 KOBAYASI, Ryohei; 〒6008091 京都府京都市下京区東洞院通四条下ル元悪王子町37番地 豊元四条烏丸ビル7階 小林特許商標事務所 Kyoto KOBAYASI PATENT & TRADEMARK, 7th Floor, Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si Kyoto 6008091, JP
優先権情報
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) MASS ANALYZER
(FR) ANALYSEUR DE MASSE
(JA) 質量分析装置
要約
(EN)
This invention provides an electron impact ion source in a mass analyzer. The entry of electric fields for thermoelectron acceleration, due to a difference in potential between a thermoelectron generating filament (3) and an ionization chamber (2), into the ionization chamber (2) from an electron incidence port (5) can be avoided by disposing the filament (3) at a position distant from the ionization chamber (2). According to the above constitution, an ion take-out electric field formed within the ionization chamber (2) by the voltage applied to a lens electrode (13) is not disturbed, and ions generated within the ionization chamber (2) can be efficiently taken out and can be transported to a mass analyzer disposed after the ionization chamber (2). Consequently, signal intensity in a detector can be improved, and, thus, high-sensitivity mass analysis can be realized.
(FR)
Cette invention concerne une source ionique d'impact d'électrons dans un analyseur de masse. L'entrée de champs électriques, en vue d'une accélération thermoélectronique due à une différence de potentiel entre un filament de génération thermoélectronique (3) et une chambre d'ionisation (2), dans la chambre d'ionisation (2), à partir d'un accès d'incidence d'électrons (5), peut être évitée en disposant le filament (3) à une certaine position distante de la chambre d'ionisation (2). Conformément à la constitution ci-dessus, un champ électrique d'extraction d'ions formés à l'intérieur de la chambre d'ionisation (2) par la tension appliquée à une électrode (13) de lentille n'est pas perturbée et les ions générés à l'intérieur de la chambre d'ionisation (2) peuvent être extraits efficacement et peuvent être transportés vers un analyseur de masse placé après la chambre d'ionisation (2). En conséquence, on peut améliorer l'intensité de signal dans un détecteur et, ainsi, on peut réaliser une analyse de masse de sensibilité élevée.
(JA)
not available
国際事務局に記録されている最新の書誌情報