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1. WO2007100059 - 導電性接触子ユニット

公開番号 WO/2007/100059
公開日 07.09.2007
国際出願番号 PCT/JP2007/053950
国際出願日 01.03.2007
IPC
G01R 1/073 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02一般的な構造の細部
06測定用導線;測定用探針
067測定用探針
073複合探針
G01R 1/067 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02一般的な構造の細部
06測定用導線;測定用探針
067測定用探針
G01R 31/26 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26個々の半導体装置の試験
CPC
G01R 1/06716
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
06716Elastic
G01R 1/06722
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
06716Elastic
06722Spring-loaded
G01R 1/06738
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
06733Geometry aspects
06738related to tip portion
G01R 1/07371
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07307with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
07364with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
07371using an intermediate card or back card with apertures through which the probes pass
G01R 31/2808
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
出願人
  • 日本発条株式会社 NHK SPRING CO., LTD. [JP/JP]; 〒2360004 神奈川県横浜市金沢区福浦3丁目10番地 Kanagawa 3-10, Fukuura, Kanazawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2360004, JP (AllExceptUS)
  • 冨永 潤 TOMINAGA, Jun [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 石川 浩嗣 ISHIKAWA, Koji [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 力丸 泰一 RIKIMARU, Taiichi [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者
  • 冨永 潤 TOMINAGA, Jun; JP
  • 石川 浩嗣 ISHIKAWA, Koji; JP
  • 力丸 泰一 RIKIMARU, Taiichi; JP
代理人
  • 酒井 宏明 SAKAI, Hiroaki; 〒1006020 東京都千代田区霞が関三丁目2番5号 霞が関ビルディング 酒井国際特許事務所 Tokyo Sakai International Patent Office Kasumigaseki Building 2-5, Kasumigaseki 3-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1006020, JP
優先権情報
2006-05864303.03.2006JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) CONDUCTIVE CONTACT UNIT
(FR) DISPOSITIF DE CONTACT CONDUCTEUR
(JA) 導電性接触子ユニット
要約
(EN)
A conductive contact unit used for stably feeding inspection signals by reducing the variation of the frictional forces produced between conductive contacts and guides. The conductive contact unit comprises a conductive contact holder having first guide grooves for slidingly and fittingly holding the lateral one edges of the conductive contacts and second guide grooves so positioned as to face the first guide grooves and slidably and fittingly holding the other edges of the conductive contacts each fitted into the first guide grooves, the conductive contacts having a first contact part physically brought into contact with one of different circuit structures, a second contact part physically brought into contact with a circuit structure other than that brought into contact with the first contact part, a first connection part interposed between the first contact part and the second contact part and connecting an elastic part to the first contact part, and a second connection part connecting the elastic part to the second contact part and formed in a plate shape, and an aligning means for aligning the conductive contacts.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif de contact conducteur utilisé pour alimenter de façon stable des signaux d'inspection en réduisant la variation des forces de frottement produites entre les contacts conducteurs et les guides. Le dispositif de contact conducteur comprend un support de contact conducteur présentant des premières rainures de guidage maintenant de manière coulissante et ajustée des premières arêtes latérales des contacts conducteurs, ainsi que des secondes rainures de guidage, positionnées de manière à faire face aux premières rainures de guidage, maintenant de manière coulissante et ajustée les autres arêtes des contacts conducteurs, chacune étant fixée dans les premières rainures de guidage, les contacts conducteurs possédant une première partie de contact amenée physiquement en contact avec une structure de circuit parmi différentes structures de circuit, une seconde partie de contact amenée physiquement en contact avec une structure de circuit autre que celle amenée en contact avec la première partie de contact, une première partie de connexion, interposée entre la première partie de contact et la seconde partie de contact, connectant une partie élastique à la première partie de contact, une seconde partie de connexion connectant la partie élastique à la seconde partie de contact et présentant une forme de plaque, ainsi qu'un moyen d'alignement destiné à aligner les contacts conducteurs.
(JA)
 導電性接触子とガイドとの間に生じる摩擦力のばらつきを低減し、検査信号を安定的に供給する。この目的のため、導電性接触子の幅方向の一方の縁端部を摺動自在に嵌合保持する第1のガイド溝、および前記第1のガイド溝と対向して位置し、前記第1のガイド溝に嵌め込まれた前記導電性接触子の他方の縁端部を摺動自在に嵌合保持する第2のガイド溝をそれぞれ複数個有する導電性接触子ホルダと、異なる回路構造のいずれかと物理的に接触する第1接触部、前記第1接触部とは別の回路構造と物理的に接触する第2接触部、前記第1接触部と前記第2接触部との間に介在し前記弾性部と前記第1接触部とを接続する第1接続部、および前記弾性部と前記第2接触部とを接続する第2接続部を有し、板状をなす複数の前記導電性接触子と、複数の前記導電性接触子を整列させる整列手段と、を備える。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報