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1. WO2007099970 - 測定装置、試験装置、電子デバイス、測定方法、プログラム、及び記録媒体

公開番号 WO/2007/099970
公開日 07.09.2007
国際出願番号 PCT/JP2007/053681
国際出願日 27.02.2007
IPC
G01R 29/02 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
29グループG01R19/00~G01R27/00に包含されない電気量を指示しまたは測定する装置
02個々のパルスの特性,例.パルスの平担さからのずれ,立上り時間または持続時間
G01R 31/319 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
317デジタル回路の試験
3181機能試験
319テスターハードウエア,すなわち,出力処理回路
CPC
G01R 31/31725
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31725Timing aspects, e.g. clock distribution, skew, propagation delay
G01R 31/31937
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
3193with comparison between actual response and known fault free response
31937Timing aspects, e.g. measuring propagation delay
出願人
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 〒1790071 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 Tokyo 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
  • ホウ ハリー HOU, Harry [US/US]; US (UsOnly)
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者
  • ホウ ハリー HOU, Harry; US
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro; JP
代理人
  • 龍華 明裕 RYUKA, Akihiro; 〒1631105 東京都新宿区西新宿6-22-1 新宿スクエアタワー5階 Tokyo 5F, Shinjuku Square Tower, 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1631105, JP
優先権情報
11/362,53627.02.2006US
11/550,81119.10.2006US
11/623,10115.01.2007US
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) MEASURING DEVICE, TEST DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, MEASURING METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
(FR) DISPOSITIF DE MESURE, DISPOSITIF D'ESSAI, DISPOSITIF ELECTRONIQUE, PROCEDE DE MESURE, PROGRAMME ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
(JA) 測定装置、試験装置、電子デバイス、測定方法、プログラム、及び記録媒体
要約
(EN)
Provided is a measuring device for measuring a signal to be measured. The measuring device includes: a strobe timing generator for successively generating strobes arranged at a substantially identical time interval; a level comparator for detecting a signal level of the signal to be measured, according to the successively given strobe timing; a capture memory for storing a data string of the signal level successively detected by the level comparator; a window function multiplication unit for multiplying the data string by a window function; a frequency region conversion unit for converting the data string multiplied by the window function into a spectrum of the frequency region; and an instantaneous phase noise calculation unit for calculating an instantaneous phase noise in the time axis of the signal to be measured, according to the spectrum.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif de mesure destiné à mesurer un signal à mesurer. Le dispositif de mesure comprend : un générateur de synchronisation d'échantillonnage destiné à générer successivement des signaux d'échantillonnage espacés selon des intervalles de temps essentiellement identiques; un comparateur de niveau destiné à détecter un niveau de signal du signal à mesurer, selon la synchronisation d'échantillonnage successivement donnée; une mémoire de capture destinée à stocker une chaîne de données du niveau de signal successivement détecté par le comparateur de niveau; une unité de multiplication de fonction de fenêtre destinée à multiplier la chaîne de données par une fonction de fenêtre; une unité de conversion de région de fréquence destinée à convertir la chaîne de données multipliée par la fonction de fenêtre en un spectre de la région de fréquence; et une unité de calcul de bruit de phase instantané destinée à calculer un bruit de phase instantané dans l'axe des temps du signal à mesurer, selon le spectre.
(JA)
 被測定信号を測定する測定装置であって、略等時間間隔に配置されたストローブを順次生成するストローブタイミング発生器と、順次与えられるストローブのタイミングに応じて、被測定信号の信号レベルを検出するレベル比較部と、レベル比較部が順次検出する信号レベルのデータ列を格納するキャプチャメモリと、データ列に窓関数を乗算する窓関数乗算部と、窓関数が乗算されたデータ列を周波数領域のスペクトラムに変換する周波数領域変換部と、スペクトラムに基づいて、被測定信号の時間軸における瞬時位相雑音を算出する瞬時位相雑音算出部とを備える測定装置を提供する。
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