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1. WO2007099918 - 測定装置、試験装置、及び電子デバイス

公開番号 WO/2007/099918
公開日 07.09.2007
国際出願番号 PCT/JP2007/053548
国際出願日 26.02.2007
IPC
G01R 29/02 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
29グループG01R19/00~G01R27/00に包含されない電気量を指示しまたは測定する装置
02個々のパルスの特性,例.パルスの平担さからのずれ,立上り時間または持続時間
G01R 31/319 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
317デジタル回路の試験
3181機能試験
319テスターハードウエア,すなわち,出力処理回路
CPC
G01R 31/31725
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31725Timing aspects, e.g. clock distribution, skew, propagation delay
G01R 31/31937
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
3193with comparison between actual response and known fault free response
31937Timing aspects, e.g. measuring propagation delay
出願人
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 〒1790071 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 Tokyo 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
  • ホウ ハリー HOU, Harry [US/US]; US (UsOnly)
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者
  • ホウ ハリー HOU, Harry; US
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro; JP
代理人
  • 龍華 明裕 RYUKA, Akihiro; 〒1631105 東京都新宿区西新宿6-22-1 新宿スクエアタワー5階 Tokyo 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1631105, JP
優先権情報
11/362,53627.02.2006US
11/550,81119.10.2006US
11/623,10115.01.2007US
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) MEASURING DEVICE, TEST DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE, DISPOSITIF D'ESSAI, ET DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
(JA) 測定装置、試験装置、及び電子デバイス
要約
(EN)
Provided is a measuring device for measuring a signal to be measured and having a signal level changing a predetermined bit time interval. The measuring device includes: a strobe timing generator for successively generating strobes arranged at a substantially identical time interval; a level comparator for detecting a signal level of the signal to be measured at the timing of the successively given strobe timing; a capture memory for storing the signal level outputted by the level comparator; and a digital signal processing unit for obtaining the measurement result of the signal to be measured, according to a data sequence formed by data having a substantially identical time interval and a greater interval than the bit time interval of the signal to be measured, among the data stored by the capture memory.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de mesure destiné à mesurer un signal et possédant un niveau de signal changeant à intervalle de temps binaire prédéfini. Le dispositif de mesure comprend: un générateur de synchronisation de signal d'échantillonnage destiné à générer de façon successive des signaux d'échantillonnage disposés à des intervalles de temps sensiblement identiques, un comparateur de niveau destiné à détecter un niveau de signal du signal à mesurer au moment de la synchronisation du signal d'échantillonnage successivement donné; une mémoire de saisie destinée à stocker le niveau de signal émis par le comparateur de niveau; et une unité de traitement de signal numérique destinée à obtenir le résultat de mesure du signal à mesurer, en fonction d'une séquence de données formée par les données possédant un intervalle de temps sensiblement identique et un intervalle supérieur à l'intervalle de temps binaire du signal à mesurer, parmi les données stockées par la mémoire de saisie.
(JA)
 予め定められたビット時間間隔で信号レベルが遷移する被測定信号を測定する測定装置であって、略等時間間隔に配置されたストローブを順次生成するストローブタイミング発生器と、順次与えられるストローブのタイミングにおいて、被測定信号の信号レベルを検出するレベル比較部と、レベル比較部が出力する信号レベルを格納するキャプチャメモリと、キャプチャメモリが格納したデータのうち、時間間隔が略等時間間隔且つ前記被測定信号のビット時間間隔より大きい間隔のデータからなるデータ系列に基づいて、被測定信号の測定結果を求めるデジタル信号処理部とを備える測定装置を提供する。
他の公開
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