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1. WO2007099878 - 測定装置、測定方法、試験装置、試験方法、及び電子デバイス

公開番号 WO/2007/099878
公開日 07.09.2007
国際出願番号 PCT/JP2007/053425
国際出願日 23.02.2007
IPC
G01R 29/02 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
29グループG01R19/00~G01R27/00に包含されない電気量を指示しまたは測定する装置
02個々のパルスの特性,例.パルスの平担さからのずれ,立上り時間または持続時間
G01R 31/319 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
317デジタル回路の試験
3181機能試験
319テスターハードウエア,すなわち,出力処理回路
CPC
G01R 31/31709
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31708Analysis of signal quality
31709Jitter measurements; Jitter generators
出願人
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 〒1790071 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 Tokyo 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 岩本 敏 IWAMOTO, Satoshi [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 須田 昌克 SUDA, Masakatsu [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 石田 雅裕 ISHIDA, Masahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者
  • 山口 隆弘 YAMAGUCHI, Takahiro; JP
  • 岩本 敏 IWAMOTO, Satoshi; JP
  • 須田 昌克 SUDA, Masakatsu; JP
  • 石田 雅裕 ISHIDA, Masahiro; JP
代理人
  • 龍華 明裕 RYUKA, Akihiro; 〒1631105 東京都新宿区西新宿6-22-1 新宿スクエアタワー5階 Tokyo 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1631105, JP
優先権情報
11/362,53627.02.2006US
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) MEASURING DEVICE, MEASURING METHOD, TEST DEVICE, TEST METHOD, AND ELECTRONIC DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE, PROCEDE DE MESURE, DISPOSITIF D'ESSAI, PROCEDE D'ESSAI ET DISPOSITIF ELECTRONIQUE
(JA) 測定装置、測定方法、試験装置、試験方法、及び電子デバイス
要約
(EN)
Provided is a measuring device for measuring a signal to be measured. The measuring device includes: a comparator for successively comparing a voltage value of a signal to be measured and a given reference voltage value at a timing of successively given strobe signals; a strobe timing generator for successively generating strobe signals arranged at substantially identical interval; a capture memory for storing a comparison result of the comparator; and a digital signal processing unit for calculating a jitter of the signal to be measured, according to the comparison result stored in the capture memory.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif de mesure destiné à mesurer un signal à mesurer. Le dispositif de mesure comprend : un comparateur pour comparer successivement une valeur de tension d'un signal à mesurer et une valeur de tension de référence donnée, synchronisé sur des signaux d'échantillonnage donnés successivement ; un générateur de synchronisation d'échantillonnage destiné à générer successivement des signaux d'échantillonnage espacés selon des intervalles essentiellement identiques ; une mémoire de capture destinée à stocker un résultat de comparaison du comparateur ; et une unité de traitement de signal numérique destinée à calculer une gigue du signal à mesurer selon le résultat de comparaison stocké dans la mémoire de capture.
(JA)
 被測定信号を測定する測定装置であって、順次与えられるストローブ信号のタイミングにおいて、被測定信号の電圧値と、与えられる参照電圧値とを順次比較するコンパレータと、略等時間間隔に配置されたストローブ信号を順次生成するストローブタイミング発生器と、コンパレータの比較結果を格納するキャプチャメモリと、キャプチャメモリが格納した比較結果に基づいて、被測定信号のジッタを算出するデジタル信号処理部とを備える測定装置を提供する。
他の公開
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