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1. (WO2007086147) 通電試験用プローブ、プローブ組立体およびその製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/086147    国際出願番号:    PCT/JP2006/301601
国際公開日: 02.08.2007 国際出願日: 25.01.2006
IPC:
G01R 1/073 (2006.01)
出願人: KABUSHIKI KAISHA NIHON MICRONICS [JP/JP]; 6-8, Kichijojihoncho 2-chome, Musashino-shi, Tokyo 1800004 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SOUMA, Akira [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
URUSHIYAMA, Yoshikazu [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TAZAWA, Masahisa [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SATO, Tomoya [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
HIRAKAWA, Hideki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
HAYASHIZAKI, Takayuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: SOUMA, Akira; (JP).
URUSHIYAMA, Yoshikazu; (JP).
TAZAWA, Masahisa; (JP).
SATO, Tomoya; (JP).
HIRAKAWA, Hideki; (JP).
HAYASHIZAKI, Takayuki; (JP)
代理人: MATSUNAGA, Nobuyuki; Urban Toranomon Building, 7F 16-4, Toranomon 1-chome Minato-ku, Tokyo 1050001 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) CURRENT TESTING PROBE, PROBE ASSEMBLY AND METHOD FOR MANUFACTURING SUCH PROBE ASSEMBLY
(FR) SONDE DE CONTRÔLE DE COURANT, ENSEMBLE SONDES ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D’UN TEL ENSEMBLE SONDES
(JA) 通電試験用プローブ、プローブ組立体およびその製造方法
要約: front page image
(EN)A current testing probe is provided with a probe main body having a board-like connecting section end plane of which is to be a connecting plane to a probe substrate; a solder layer formed at least on one side plane of the connecting section; and a guide section, which is formed on the connecting section, penetrates the connecting section in the board thickness direction, from the one side plane whereupon the solder layer is formed to the other side plane, and can guide a part of the solder layer toward the other side plane when the solder layer is molten.
(FR)La sonde de contrôle de courant selon l’invention comporte un corps principal de sonde comportant un plan d'extrémité de section de connexion en forme de carte qui doit être le plan de connexion d'un substrat de sonde ; une couche de brasure disposée au moins sur un plan latéral de la section de connexion ; et une section de guidage qui est disposée sur la section de connexion, pénètre dans la section de connexion dans la direction de l’épaisseur de la carte, depuis un plan latéral sur lequel la couche de brasure est disposée vers l'autre plan latéral, et peut guider une partie de la couche de brasure ver l'autre plan latéral lorsque la couche de brasure est fondue.
(JA)板状の接続部を有し該接続部の端面がプローブ基板への接続面となるプローブ本体と、前記接続部の少なくとも一方の側面に形成されたはんだ層と、前記接続部に形成され、前記はんだ層が形成された前記一方の側面からその他方の側面に前記接続部をその板厚方向へ貫通し、前記はんだ層が溶融したとき、その一部を前記他方の側面に向けて案内可能の案内部とを有する通電試験用プローブ。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)