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1. (WO2007058212) X線検査装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/058212    国際出願番号:    PCT/JP2006/322762
国際公開日: 24.05.2007 国際出願日: 15.11.2006
IPC:
G01B 15/02 (2006.01), G01G 9/00 (2006.01), G01N 23/04 (2006.01)
出願人: ISHIDA CO., LTD. [JP/JP]; 44, Sanno-cho, Shogoin, Sakyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6068392 (JP) (米国を除く全ての指定国).
HIROSE, Osamu [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: HIROSE, Osamu; (JP)
代理人: ONO, Yukio; Shinjyu Global IP, South Forest Bldg. 1-4-19, Minamimori-machi Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300054 (JP)
優先権情報:
2005-331540 16.11.2005 JP
発明の名称: (EN) X-RAY INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION A RAYONS X
(JA) X線検査装置
要約: front page image
(EN)It is possible to provide an X-ray inspection device capable of accurately estimating a mass of material by eliminating the affect of various uncertain factors such as X-ray energy characteristics and a specific filter. The X-ray inspection device (10) includes a sample image capturing unit (31), an ideal curve creation unit (32), a curve adjusting unit (33), and a mass estimation unit (34) as function blocks created by a control computer (20). The sample image capturing unit (31) captures 10 X-ray transmission images of a product (G) whose actual mass is known in advance. The ideal curve creation unit (32) creates a table according to an expression indicating the relationship between the brightness and the estimated mass of the regions contained in the X-ray transmission images. The curve adjusting unit (33) references the actual mass of each inputted X-ray transmission image and adjusts the table so that the estimated mass approaches the actual mass. The mass estimation unit (34) obtains an estimated mass for each unit region according to the table after the adjustment and totals them to obtain the estimated total mass of the product (G).
(FR)La présente invention rend possible la mise à disposition d'un dispositif d'inspection à rayons X en mesure d'estimer de manière précise une masse de matériau en éliminant l'influence négative de divers facteurs incertains tels que les caractéristiques d'énergie de rayons X et un filtre spécifique. Le dispositif d'inspection à rayons X (10) inclut une unité de capture d'image échantillon (31), une unité de création de courbe idéale (32), une unité d'ajustement de courbe (33), ainsi qu'une unité d'estimation de masse (34) en tant que blocs de fonction créés par un ordinateur de commande (20). L'unité de capture d'image échantillon (31) capture 10 images de transmission à rayons X d'un produit (G) dont la masse réelle est connue d'avance. L'unité de création de courbe idéale (32) crée un tableau selon une expression indiquant la relation entre la brillance et la masse estimée des régions contenues dans les images de transmission à rayons X. L'unité d'ajustement de courbe (33) référence la masse réelle de chaque image de transmission à rayons X introduite et ajuste le tableau de manière à ce que la masse estimée se rapproche de la masse réelle. L'unité d'estimation de masse (34) obtient une masse estimée pour chaque région d'unité selon le tableau suite à l'ajustement et les totalise afin d'obtenir la masse estimée totale du produit (G).
(JA) X線のエネルギー特性や、固有フィルタ等の各種不確定要因の影響を排除して高精度に物質の質量を推定することが可能なX線検査装置を提供するために、X線検査装置(10)では、制御コンピュータ(20)によって作成された機能ブロックとして、サンプル画像取得部(31)と、理想カーブ作成部(32)と、カーブ調整部(33)と、質量推定部(34)とを含む。サンプル画像取得部(31)は、予め実質量が分かっている商品(G)について10枚のX線透過画像を取得する。理想カーブ作成部(32)は、X線透過画像に含まれる領域の明るさとその推定質量との関係を示す数式に基づいてテーブルを作成する。カーブ調整部(33)は、入力された各X線透過画像の実質量を参照して、推定質量が実質量に近づくようにテーブルを調整していく。質量推定部(34)は、調整後のテーブルに基づいて単位領域ごとの推定質量を求め、これらを合計して商品(G)の推定合計質量を求める。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)