WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2007034840) 微粒子成分計測方法および微粒子成分計測装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/034840    国際出願番号:    PCT/JP2006/318647
国際公開日: 29.03.2007 国際出願日: 20.09.2006
IPC:
G01N 21/63 (2006.01)
出願人: CENTRAL RESEARCH INSTITUTE OF ELECTRIC POWER INDUSTRY [JP/JP]; 6-1, Otemachi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008126 (JP) (米国を除く全ての指定国).
FUJII, Takashi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
GOTO, Naohiko [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
MIKI, Megumi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
NAYUKI, Takuya [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
NEMOTO, Koshichi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TANAKA, Nobuyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: FUJII, Takashi; (JP).
GOTO, Naohiko; (JP).
MIKI, Megumi; (JP).
NAYUKI, Takuya; (JP).
NEMOTO, Koshichi; (JP).
TANAKA, Nobuyuki; (JP)
代理人: MURASE, Kazumi; KOHNO TORANOMON BUILDING 2F. 8-5, Toranomon 1-chome Minato-ku, Tokyo 105-0001 (JP)
優先権情報:
2005-272665 20.09.2005 JP
発明の名称: (EN) FINE PARTICLE COMPONENT MEASURING METHOD AND FINE PARTICLE COMPONENT MEASURING INSTRUMENT
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE COMPOSANTS DE FINES PARTICULES ET INSTRUMENT DE MESURE DE COMPOSANTS DE FINES PARTICULES
(JA) 微粒子成分計測方法および微粒子成分計測装置
要約: front page image
(EN)Plasma is generated by irradiating fine particles such as nano particles or micro particles with an ultrashort pulse laser beam (15) condensed after being emitted from a laser unit (16), or more preferably, plasma is generated by filaments (14) created in the ultrashort pulse laser beam (15), and the components of fine particles are measured based on the emission spectrum from that plasma.
(FR)Dans la présente invention, du plasma est généré en irradiant de fines particules telles que des nanoparticules ou des microparticules avec un faisceau laser à impulsions ultracourtes (15) condensé après avoir été émis par une unité laser (16), ou mieux encore, du plasma est généré par des filaments (14) créés dans le faisceau laser à impulsions ultracourtes (15), et les composants de fines particules sont mesurés sur la base du spectre d'émission de ce plasma.
(JA) レーザー装置16から出射された超短パルスレーザー光15を集光することによりナノ粒子やマイクロ粒子等の微粒子に照射してプラズマを発生させ、より好ましくは超短パルスレーザー光15中に生成されるフィラメント14でプラズマを発生させ、そのプラズマからの発光スペクトルに基づいて微粒子の成分を計測するものである。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)