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1. (WO2007034562) 発光ダイオード検査方法および検査装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/034562    国際出願番号:    PCT/JP2005/017612
国際公開日: 29.03.2007 国際出願日: 26.09.2005
IPC:
H01L 33/00 (2006.01)
出願人: FAR EAST ENGINEERING CO., LTD. [JP/JP]; 5292, Oaza Ariake, Hotaka-machi, Minamiazumi-gun, Nagano 3998301 (JP) (米国を除く全ての指定国).
JCC ENGINEERING CO., LTD. [JP/JP]; 3-3, Ninomiyahigashi 3-chome, Akiruno-shi, Tokyo 1970815 (JP) (米国を除く全ての指定国).
HARA, Shigeki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KUMAI, Yasuhito [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: HARA, Shigeki; (JP).
KUMAI, Yasuhito; (JP)
代理人: YOKOZAWA, Shiro; 1132-18, Shimadachi Matsumoto-shi, Nagano 3900852 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING LIGHT EMITTING DIODE
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR INSPECTER UNE DIODE ÉLECTROLUMINESCENTE
(JA) 発光ダイオード検査方法および検査装置
要約: front page image
(EN)In a light-emitting diode inspection apparatus (1), a plurality of light-emitting diodes (10) are carried through a high temperature tub (17) and heated and then current is passed through each light-emitting diode (10) at a conducting section (18) thus performing conduction test of the light-emitting diodes (10) simultaneously. Subsequently, the light-emitting diode (10) is carried through a cooling section (19), thereby cooling the inspected light-emitting diode (10). Based on the results of the conduction test, the inspected light-emitting diodes (10) are distributed to an acceptable product take-out section (20) or a rejectable product take-out section (21) and collected. When the light-emitting diode inspection apparatus (1) is employed, a light-emitting diode (10) having high risk of disconnection due to thermal strain can be removed previously as a rejectable product.
(FR)Selon l'invention, dans un appareil d'inspection de diodes électroluminescentes (1), une pluralité de diodes électroluminescentes (10) sont transportées au travers d'un bac à haute température (17) et chauffées, puis on fait passer un courant au travers de chaque diode électroluminescente (10) au niveau d'une section de conduction (18), ce qui permet ainsi d'effectuer simultanément un test de conduction des diodes électroluminescentes (10). Ensuite, la diode électroluminescente (10) est transportée au travers d'une section de refroidissement (19) ce qui refroidit ainsi la diode électroluminescente (10) inspectée. Sur la base des résultats du test de conduction, les diodes électroluminescentes (10) inspectées sont réparties sur une section à emporter de produits acceptables (20) ou sur une section à emporter de produits à rejeter (21), et recueillies. Lorsque l'appareil d'inspection de diodes électroluminescentes (1) est utilisé, une diode électroluminescente (10) présentant un risque élevé de déconnexion due à une contrainte thermique peut être au préalable retirée en tant que produit à rejeter.
(JA) 発光ダイオード素子検査装置(1)は、複数個の発光ダイオード素子(10)を高温槽(17)を通して搬送して加熱し、加熱後に通電部(18)において、各発光ダイオード素子(10)に個別通電を行い、各発光ダイオード素子(10)に対する通電試験を同時に行う。通電試験後に、冷却部(19)を通して搬送して検査済みの発光ダイオード素子(10)を冷却する。検査済みの発光ダイオード素子(10)は通電試験の結果に基づき、良品取り出し部(20)および不良品取り出し部(21)に振り分けて回収される。発光ダイオード検査装置(1)を用いれば、熱歪によって断線する可能性の高い発光ダイオード素子(10)を不良品として事前に排除できる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)