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1. (WO2007034548) 信号伝達回路、その信号伝達回路を含む半導体装置、その半導体回路装置の設計方法、及び、その設計方法を実現するCAD装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/034548    国際出願番号:    PCT/JP2005/017445
国際公開日: 29.03.2007 国際出願日: 22.09.2005
IPC:
G06F 17/50 (2006.01), H03K 3/037 (2006.01), H03K 19/003 (2006.01), H01L 21/82 (2006.01)
出願人: FUJITSU LIMITED [JP/JP]; 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2118588 (JP) (米国を除く全ての指定国).
UEMURA, Taiki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TOSAKA, Yoshiharu [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: UEMURA, Taiki; (JP).
TOSAKA, Yoshiharu; (JP)
代理人: YOKOYAMA, Junichi; c/o FUJITSU LIMITED, 1-1, Kamikodanaka 4-chome Nakahara-ku, Kawasaki-shi Kanagawa2118588 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) SIGNAL TRANSMISSION CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE CONTAINING THE SIGNAL TRANSMISSION CIRCUIT, METHOD FOR DESIGNING THE SEMICONDUCTOR CIRCUIT DEVICE, AND CAD DEVICE FOR REALIZING THE DESIGN METHOD
(FR) CIRCUIT DE TRANSMISSION DE SIGNAL, DISPOSITIF SEMI-CONDUCTEUR CONTENANT LE CIRCUIT DE TRANSMISSION DE SIGNAL, PROCÉDÉ DE CONCEPTION DU DISPOSITIF DE CIRCUIT SEMI-CONDUCTEUR, ET DISPOSITIF DE CAO POUR RÉALISER LE PROCÉDÉ DE CONCEPTION
(JA) 信号伝達回路、その信号伝達回路を含む半導体装置、その半導体回路装置の設計方法、及び、その設計方法を実現するCAD装置
要約: front page image
(EN)[PROBLEMS] To provide a semiconductor circuit device in which soft error resistance is enhanced while assuring the high-speed operation of an entire LSI circuit. [MEANS FOR SOLVING THE PROBLEMS] A CAD device includes: means for identifying a signal transmission time of each signal transmission circuit of the LSI circuit; means for identifying an output inversion ratio upon radiation exposure of a flip-flop circuit of each signal transmission circuit; means for identifying a signal transmission circuit as a critical path; means for calculating a soft error ratio of the entire LSI circuit according to the signal transmission time, the output inversion ratio, and the clock cycle; and means for lowing the soft error ratio of the entire LSI circuit without changing the signal transmission time of the signal transmission circuit as the critical path when a predetermined soft error ratio is lower than the soft error ratio of the entire LSI circuit.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de circuit semi-conducteur dans lequel la résistance aux erreurs logiques est améliorée tout en assurant le fonctionnement à grande vitesse de l’ensemble d’un circuit LSI. Le dispositif de CAO selon l'invention comprend : des moyens d’identification du temps de transmission de signal de chaque circuit de transmission de signal du circuit LSI ; des moyens d’identification d’un taux d’inversion de sortie par exposition à une radiation d'un circuit Eccles-Jordan de chaque circuit de transmission de signal ; des moyens d’identification d’un circuit de transmission de signal comme un chemin critique ; des moyens de calcul d’un taux d'erreurs logiques de l’ensemble du circuit LSI en fonction du temps de transmission de signal, du taux d’inversion de sortie, et du cycle d’horloge ; et des moyens d’abaisser le taux d’erreur logique de l’ensemble du circuit LSI sans modifier le temps de transmission de signal du circuit de transmission de signal identifié comme chemin critique lorsqu'un taux d'erreurs logiques prédéterminé est inférieur au taux d'erreurs logiques de l'ensemble du circuit LSI.
(JA)(課題)LSI回路全体の高速動作は確保しながら、ソフトエラー耐性が強化されている半導体回路装置及びその半導体回路装置の設計方法を実現するCAD装置を提供する。 (解決手段)本発明のCAD装置は、LSI回路の各信号伝達回路が有する信号伝達時間を特定する手段と、各信号伝達回路が有するフリップフロップ回路の放射線被爆時の出力反転率を特定する手段と、クリティカルパスとなる信号伝達回路を特定する手段と、信号伝達時間、出力反転率、クロック周期に基づいてLSI回路全体のソフトエラー率を計算する手段と、予め決められたソフトエラー率がLSI回路全体のソフトエラー率と比較して低い時は、クリティカルパスとなる信号伝達回路の信号伝達時間を変えないように、LSI回路全体のソフトエラー率を低下する手段とを備えることを特徴とするため、上記の課題が解決される。        
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)