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1. (WO2007032194) 試験装置、試験方法、解析装置及びプログラム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/032194    国際出願番号:    PCT/JP2006/316638
国際公開日: 22.03.2007 国際出願日: 24.08.2006
IPC:
G11C 29/44 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), G11C 29/56 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KAWASAKI, Kunihiko [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KAWASAKI, Kunihiko; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105 (JP)
優先権情報:
2005-268728 15.09.2005 JP
発明の名称: (EN) TESTING DEVICE, TESTING METHOD, ANALYZING DEVICE, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE TEST, MÉTHODE DE TEST, DISPOSITIF D’ANALYSE ET PROGRAMME
(JA) 試験装置、試験方法、解析装置及びプログラム
要約: front page image
(EN)A testing device comprises a plurality of testing signal feeding units corresponding to individual test memories, for feeding the corresponding individual test memories with testing signals to test the test memories, a plurality of fault detecting units corresponding to the individual test memories, for detecting the faults of the test memories, a plurality of first analyzing units corresponding to the individual test memories, for replacing a faulty memory cell in the corresponding test memory by any preparatory cell owned by that test memory thereby to determine a relieving solution to relieve the fault of that test memory, and a second analyzing unit for succeeding, in response to the start of the analysis of the relief solution on the different test memories by the first analyzing units, the analyzing operation of that relief solution from the first analyzing unit not having finished the analysis of the relief solution, thereby to determine that relief solution.
(FR)Le dispositif de test selon l’invention comprend une pluralité d’unités d’alimentation en signaux de test correspondant à des mémoires des test individuelles pour alimenter les mémoires des test individuelles correspondantes en signaux de test de façon à tester ces mémoires de test, une pluralité d’unités de détection de défaut correspondant aux mémoires de test individuelles pour détecter les défauts des mémoires des test, une pluralité de premières unités d’analyse correspondant aux mémoires des test individuelles pour remplacer une cellule mémoire défectueuse dans la mémoire de test correspondante par toute cellule de préparation possédée par cette mémoire de test de façon à déterminer une solution de suppression pour supprimer le défaut de cette mémoire de test, et une deuxième unité d’analyse pour réussir, en réponse au début de l’analyse de la solution de suppression des différentes mémoires de test par les premières unités d’analyse, l’opération d’analyse de cette solution de suppression de la première unité d’analyse n’ayant pas terminé l’analyse de la solution de suppression, à ainsi déterminer cette solution de suppression.
(JA) 本発明の試験装置は、それぞれの被試験メモリに対応して設けられ、対応する被試験メモリを試験するための試験信号を当該被試験メモリに供給する複数の試験信号供給部と、それぞれの被試験メモリに対応して設けられ、当該被試験メモリの不良を検出する複数の不良検出部と、それぞれの被試験メモリに対応して設けられ、対応する被試験メモリ内の不良の記憶セルを当該被試験メモリが有するいずれかの予備セルに置換することにより当該被試験メモリの不良を救済するための救済解を求める複数の第1解析部と、複数の第1解析部が異なる複数の被試験メモリについて救済解の解析を開始することに応じて、救済解の解析を終えていない第1解析部から当該救済解の解析処理を引き継いで当該救済解を求める第2解析部とを備える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)