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1. (WO2007029714) 波長分割画像計測装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/029714    国際出願番号:    PCT/JP2006/317576
国際公開日: 15.03.2007 国際出願日: 05.09.2006
予備審査請求日:    06.07.2007    
IPC:
G01J 3/36 (2006.01), G01J 3/447 (2006.01), G02B 5/18 (2006.01), G02B 5/28 (2006.01)
出願人: TOHOKU TECHNO ARCH CO., LTD. [JP/JP]; 468, Aza-Aoba, Aramaki, Aoba-ku Sendai-shi, Miyagi 980-0845 (JP) (米国を除く全ての指定国).
Photonic Lattice Inc. [JP/JP]; c/o Aoba Incubation Square, 468, Aza-Aoba, Aramaki Aoba-ku, Sendai-shi, Miyagi 9800845 (JP) (米国を除く全ての指定国).
OHTERA, Yasuo [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SATO, Takashi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KAWAKAMI, Shojiro [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: OHTERA, Yasuo; (JP).
SATO, Takashi; (JP).
KAWAKAMI, Shojiro; (JP)
代理人: FUKUMORI, Hisao; 2F, Fuji Building, 5-11, Kudanminami 4-chome, Chiyoda-ku Tokyo 1020074 (JP)
優先権情報:
2005-257611 06.09.2005 JP
発明の名称: (EN) WAVELENGTH DIVISION IMAGE MEASURING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE D'IMAGE DE DIVISION DE LONGUEUR D'ONDE
(JA) 波長分割画像計測装置
要約: front page image
(EN)A wavelength division image measuring device for dividing wideband incident light from a measurement object into a plurality of wavelengths with high selectivity and measuring these images simultaneously and collectively. Micro periodic irregular lattice is formed on a substrate (302). A plurality of micro element regions (101) having different lattice shapes or lattice periods are arranged repeatedly in the plane of the substrate (302). A high refractive index material and a low refractive index material are laid alternately in multiple layers by bias sputtering to form a wavelength filter (301) of photonic crystal structure, thus obtaining an array of photonic crystal wavelength filter (031) having sharp wavelength selection characteristics and different wavelength transmission characteristics. That array is combined with an array of light receiving elements (302) having pixels (303) arranged oppositely to the element regions (101), thus obtaining the wavelength division image measuring device.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure d'image de division de longueur d'onde servant à diviser une lumière incidente à large bande depuis un objet à mesurer en une pluralité de longueurs d'onde avec une sélectivité élevée et à mesurer ces images simultanément et collectivement. Un réseau irrégulier micropériodique est tracé sur un substrat (302). Une pluralité de zones de microéléments (101) présentant différentes formes de réseau ou différentes périodes de réseau sont disposées de façon répétitive dans le plan du substrat (302). Un matériau à indice de réfraction élevé et un matériau à indice de réfraction faible sont disposés alternativement en couches multiples par pulvérisation cathodique polarisée afin de constituer un filtre de longueur d'onde (301) à structure de cristal photonique, ce qui permet d'obtenir une matrice de filtre de longueur d'onde à cristal photonique (031) présentant des caractéristiques de sélection de longueur d'onde précises et différentes caractéristiques de transmission de longueur d'onde. Cette matrice est combinée avec une matrice d'éléments récepteurs de lumière (302) comportant des pixels (303) disposés en opposition avec les zones d'éléments (101), ce qui permet d'obtenir un dispositif de mesure d'image de division de longueur d'onde.
(JA) 計測対象物からの広帯域の入射光を、選択性よく複数の波長に分割し、それらの像を同時一括に計測することのできる、波長分割画像計測装置を提供すること。 基板上302に、微細な周期的な凹凸格子を加工する。このとき、格子形状や格子周期の異なる微小な要素領域101を基板302面内に複数、繰り返し配置しておく。次にバイアススパッタ法を用いて、高屈折率材料と低屈折率材を交互に多層積層してフォトニック結晶構造の波長フィルタ301を形成する。このようにして、鋭い波長選択特性を持ち、かつ波長透過特性の異なるフォトニック結晶波長フィルタ031のアレイを得ることができる。このアレイと、要素領域101に対向させて配置した画素303を有する受光素子302のアレイとを組み合わせて波長分割画像計測装置とする。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)