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1. (WO2007026603) 絶縁抵抗低下検出器および絶縁抵抗低下検出器の自己異常診断方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/026603    国際出願番号:    PCT/JP2006/316669
国際公開日: 08.03.2007 国際出願日: 18.08.2006
IPC:
G01R 27/02 (2006.01), G01R 35/00 (2006.01)
出願人: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1, Toyota-cho, Toyota-shi, Aichi 4718571 (JP) (米国を除く全ての指定国).
UCHIDA, Kenji [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: UCHIDA, Kenji; (JP)
代理人: FUKAMI, Hisao; Fukami Patent Office, Nakanoshima Central Tower, 22nd Floor, 2-7, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
優先権情報:
2005-247716 29.08.2005 JP
発明の名称: (EN) INSULATION RESISTANCE DEGRADATION DETECTOR AND FAILURE SELF-DIAGNOSTIC METHOD FOR INSULATION RESISTANCE DEGRADATION DETECTOR
(FR) DÉTECTEUR DE DÉTÉRIORATION DE VALEUR OHMIQUE D'ISOLEMENT ET SON PROCÉDÉ D'AUTODIAGNOSTIC DE DÉFAILLANCE
(JA) 絶縁抵抗低下検出器および絶縁抵抗低下検出器の自己異常診断方法
要約: front page image
(EN)An insulation resistance degradation detector (50) comprises a pulse generator (60) for applying a pulse signal (65) to a series circuit where a detecting resistor (70), a coupling capacitor (80), and an insulation resistor (Ri) are connected in series. A control circuit (110) detects a pulse divided voltage induced at a node (N1) through a bandpass filter (90) by means of a voltage detecting circuit (100) while the pulse signal (65) is applied to the series circuit so as to detect degradation of the insulation resistor (Ri). The control circuit (110) further detects a failure of the insulation resistance degradation detector itself when the voltage detected by the voltage detecting circuit (100) is kept above a predetermined voltage over a plurality of periods of the pulse signal (65). With this, an insulation resistance degradation detector having a failure self-diagnosis function is realized through a simple constitution.
(FR)L'invention concerne un détecteur de détérioration de valeur ohmique d'isolement (50) qui comprend un générateur d'impulsions (60) destiné à appliquer un signal impulsionnel (65) à un circuit série où sont reliés en série une résistance de détection (70), un condensateur de couplage (80) et une résistance d'isolement (Ri). Un circuit de commande (110) détecte une tension impulsionnelle divisée induite au niveau d'un noeud (N1) au travers d'un filtre passe-bande (90) au moyen d'un circuit de détection de tension (100) alors que le signal impulsionnel (65) est appliqué sur le circuit série de façon à détecter la détérioration de la résistance d'isolement (Ri). Le circuit de commande (110) détecte en outre une défaillance du détecteur de détérioration de valeur ohmique d'isolement lui même lorsque la tension, détectée par le circuit de détection de tension (100), est maintenue au-dessus d'une tension prédéterminée sur une pluralité de périodes du signal impulsionnel (65). Grâce à ceci, un détecteur de détérioration de valeur ohmique d'isolement comportant une fonction d'autodiagnostic de défaillance est réalisé par l'intermédiaire d'une conception simple.
(JA)絶縁抵抗低下検出器(50)は、検出抵抗(70)、カップリングコンデンサ(80)および絶縁抵抗(Ri)が直列接続された直列回路にパルス信号(65)を印加するパルス発生器(60)を備える。制御回路(110)は、パルス信号(65)が上記直列回路に印加された状態でノード(N1)に生じるパルス状の分圧電圧を、バンドパスフィルタ(90)を介して電圧検出回路(100)によって検出して、絶縁抵抗(Ri)の低下を検知する。さらに、制御回路(110)は、電圧検出回路(100)による検出電圧が、パルス信号(65)の複数周期を超えて所定電圧以上に維持されるときに、絶縁抵抗低下検出器自身の異常を検知する。これにより、自己異常診断機能を備えた絶縁抵抗低下検出器が簡易な構成により実現される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)