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1. (WO2007007835) 電子部品試験装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/007835    国際出願番号:    PCT/JP2006/313962
国際公開日: 18.01.2007 国際出願日: 13.07.2006
IPC:
G01R 31/26 (2006.01)
出願人: ADVANTEST Corporation [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SUZUKI, Katsuhiko [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KANEKO, Shigeki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
IKEDA, Hiroki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: SUZUKI, Katsuhiko; (JP).
KANEKO, Shigeki; (JP).
IKEDA, Hiroki; (JP)
代理人: NISHIDE, Shingo; TOKOSHIE PATENT FIRM Nishishinjyuku KF Bldg. 704, 14-24, Nishishinjyuku 8-chome Shinjyuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
優先権情報:
PCT/JP2005/012947 13.07.2005 JP
発明の名称: (EN) ELECTRONIC COMPONENT TEST DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TEST DE COMPOSANT ÉLECTRONIQUE
(JA) 電子部品試験装置
要約: front page image
(EN)When the number of electronic components under test placed on a loader buffer unit (114) to be held in the next text by contact arms (117, 118) is less than N, among the N electronic components under test held for execution of the current test, an electronic component under test at the position of the contact arms corresponding to the position lacking in the loader buffer unit is held as it is. While holding the electronic components under test, the electronic components under test placed on the loader buffer unit for execution of the next text are held. A test is executed in this state.
(FR)Lorsque le nombre de composants électroniques sous test placés sur une unité tampon d’approvisionneur (114) devant être tenu dans le test suivant par des bras de contact (117, 118) est inférieur à N, parmi les N composants électroniques sous test tenus pour exécution du test courant, un composant électronique sous test à l’emplacement des bras de contact correspondant à la position manquant dans l’unité tampon d’approvisionneur est maintenu en l’état. Tout en tenant le composant électronique sous test, les composants électroniques sous test placés dans l’unité tampon d’approvisionneur pour exécution du test suivant sont maintenus. Un test s’effectue dans cet état.
(JA)コンタクトアーム(117,118)が次回のテストにおいて保持する予定の、ローダバッファ部(114)に載置された被試験電子部品がN個未満であるときは、今回のテストを実行するために保持しているN個の被試験電子部品のうち、ローダバッファ部において欠如している位置に相当する当該コンタクトアームの位置の被試験電子部品を、払い出さないでそのまま保持するとともに、この被試験電子部品を保持したまま、次回のテストを実行するためにローダバッファ部に載置された被試験電子部品を保持し、この状態でテストを実行する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)