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1. (WO2007007658) 試験装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/007658    国際出願番号:    PCT/JP2006/313550
国際公開日: 18.01.2007 国際出願日: 07.07.2006
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KURIHARA, Yasushi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SATO, Shinya [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KURIHARA, Yasushi; (JP).
SATO, Shinya; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower, 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1631105 (JP)
優先権情報:
2005-198559 07.07.2005 JP
発明の名称: (EN) TESTING APPARATUS
(FR) APPAREIL D'ESSAI
(JA) 試験装置
要約: front page image
(EN)A time and a cost required for test are reduced by permitting a driver, which supplies a device to be tested with a test signal, to be shared with a plurality of terminals. A testing apparatus (10) is provided with a test signal generating section (130) for generating a test signal to be supplied to the device (20) to be tested; a driver (140) for outputting the test signal; a switch (150) arranged on a wiring between the driver (140) and a first terminal of the device (20) to be tested; a switch (160) arranged on a wiring between the driver (140) and a second terminal of the device (20) to be tested; and a connection control section (100), which turns on the switch (150) and turns off the switch (160) at the time of supplying the first terminal of the device (20) with the test signal, and turns off the switch (150) and turns on the switch (160) at the time of supplying the second terminal with the test signal.
(FR)L'invention concerne un appareil d'essai permettant de réduire le temps et les coûts nécessaires à un essai, car il permet de partager un circuit d'attaque conçu pour fournir un signal d'essai à un dispositif à soumettre à un essai entre plusieurs terminaux. L'invention concerne plus précisément un appareil d'essai (10) comprenant une section de production de signal d'essai (130) conçue pour produire un signal d'essai à fournir au dispositif (20) soumis à l'essai ; un circuit d'attaque (140) conçu pour fournir le signal d'essai ; et un commutateur (150) disposé entre le circuit d'attaque (140) et un premier terminal du dispositif (20) soumis à l'essai ; un commutateur (160) disposé entre le circuit d'attaque (140) et un second terminal du dispositif (20) soumis à l'essai ; et une section de contrôle de connexion (100) conçue pour activer le commutateur (150) et pour désactiver le commutateur (160) lorsque le signal d'essai est fourni au premier terminal du dispositif (20), et pour désactiver le commutateur (150) et pour activer le commutateur (160) lorsque le signal d'essai est fourni au second terminal.
(JA) 被試験デバイスに試験信号を供給するドライバを、複数の端子が共有することによって、試験に要する時間や費用を削減することを目的とする。  本発明に係る試験装置10は、被試験デバイス20に供給する試験信号を生成する試験信号生成部130と、試験信号を出力するドライバ140と、ドライバ140および被試験デバイス20の第1端子の間の配線上に設けられるスイッチ150と、ドライバ140および被試験デバイス20の第2端子の間の配線上に設けられるスイッチ160と、被試験デバイス20の第1端子に試験信号を供給する場合にスイッチ150をオンとしてスイッチ160をオフとし、第2端子に試験信号を供給する場合にスイッチ150をオフとしてスイッチ160をオンとする接続制御部100とを備える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)