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1. (WO2007004289) テスト用回路、ウェハ、測定装置、デバイス製造方法、及び表示装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/004289    国際出願番号:    PCT/JP2005/012359
国際公開日: 11.01.2007 国際出願日: 04.07.2005
IPC:
H01L 29/78 (2006.01), G01R 31/26 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), H01L 21/66 (2006.01), H01L 21/822 (2006.01), H01L 27/04 (2006.01)
出願人: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION TOHOKU UNIVERSITY [JP/JP]; 1-1, Katahira 2-chome, Aoba-ku, Sendai, Miyagi 9808577 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SUGAWA, Shigetoshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TERAMOTO, Akinobu [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: SUGAWA, Shigetoshi; (JP).
TERAMOTO, Akinobu; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) TESTING CIRCUIT, WAFER, MEASURING APPARATUS, DEVICE MANUFACTURING METHOD AND DISPLAY DEVICE
(FR) CIRCUIT DE TEST, GALETTE, APPAREIL DE MESURE, PROCÉDÉ DE FABRICATION DU DISPOSITIF ET DISPOSITIF D’AFFICHAGE
(JA) テスト用回路、ウェハ、測定装置、デバイス製造方法、及び表示装置
要約: front page image
(EN)A testing circuit is provided with a plurality of transistors, which are to be measured and electrically arranged in parallel; a selecting section for sequentially selecting the transistors to be measured; and an output section for sequentially outputting source voltages of the transistors sequentially selected by the selecting section.
(FR)La présente invention concerne un circuit de test comportant une pluralité de transistors, dont les caractéristiques doivent être mesurées et qui sont électriquement connectés en parallèle ; une section de sélection pour sélectionner séquentiellement les transistors à vérifier ; et une section de sortie pour émettre séquentiellement les tensions de source des transistors sélectionnés séquentiellement par la section de sélection.
(JA) 電気的に並列に設けられた複数の被測定トランジスタと、それぞれの被測定トランジスタを順次選択する選択部と、選択部が順次選択した被測定トランジスタのソース電圧を順次出力する出力部とを有するテスト用回路を提供する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)