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1. WO2006132224 - 反射率変化型センサ、光学式測定装置、反射率変化型センサの製造方法、並びに反射率変化型センサ用自己組織化微粒子単層膜、自己組織化微粒子単層膜及びこれら単層膜の製造方法

公開番号 WO/2006/132224
公開日 14.12.2006
国際出願番号 PCT/JP2006/311291
国際出願日 06.06.2006
予備審査請求日 27.12.2006
IPC
G01N 21/47 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
47散乱,すなわち拡散反射
G01N 21/27 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
21光学的手段,すなわち,赤外線,可視光線または紫外線を使用することによる材料の調査または分析
17調査される材料の特性に応じて入射光が変調されるシステム
25色;スペクトル特性,すなわち2またはそれ以上の波長あるいは波長帯において材料が光に与える効果の比較
27光電検出器を用いるもの
G01N 25/68 2006.01
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
25熱的手段の利用による材料の調査または分析
56含水量の調査によるもの
66露点の調査によるもの
68凝縮表面の温度変化によるもの
B01J 19/00 2006.01
B処理操作;運輸
01物理的または化学的方法または装置一般
J化学的または物理的方法,例.触媒またはコロイド化学;それらの関連装置
19化学的,物理的または物理化学的プロセス一般;それらに関連した装置
CPC
G01N 21/554
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
55Specular reflectivity
552Attenuated total reflection
553and using surface plasmons
554detecting the surface plasmon resonance of nanostructured metals, e.g. localised surface plasmon resonance
G01N 25/66
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
25Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
56by investigating moisture content
66by investigating dew-point
出願人
  • 国立大学法人東京農工大学 TOKYO UNIVERSITY OF AGRICULTURE AND TECHNOLOGY [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 沼田 孝之 NUMATA, Takayuki [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 梅田 倫弘 UMEDA, Norihiro [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 沼田 孝之 NUMATA, Takayuki
  • 梅田 倫弘 UMEDA, Norihiro
代理人
  • 須山 佐一 SUYAMA, Saichi
優先権情報
2005-16987609.06.2005JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) REFLECTIVITY VARIABLE SENSOR, OPTICAL MEASURING APPARATUS, REFLECTIVITY VARIABLE SENSOR MANUFACTURING METHOD, SELF-ORGANIZED FINE PARTICLE SINGLE LAYER FILM FOR REFLECTIVITY VARIABLE SENSOR, SELF-ORGANIZED FINE PARTICLE SINGLE LAYER FILM, AND METHOD FOR MANUFACTURING SUCH SINGLE LAYER FILMS
(FR) CAPTEUR VARIABLE EN RÉFLECTIVITÉ, DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE, PROCÉDÉ DE FABRICATION D’UN CAPTEUR VARIABLE EN RÉFLECTIVITÉ, PELLICULE MONOCHOCOUCHE DE FINES PARTICULES AUTO-ORGANISÉES POUR UN CAPTEUR VARIABLE EN RÉFLECTIVITÉ, PELLICULE MONOCHOCOUCHE DE F
(JA) 反射率変化型センサ、光学式測定装置、反射率変化型センサの製造方法、並びに反射率変化型センサ用自己組織化微粒子単層膜、自己組織化微粒子単層膜及びこれら単層膜の製造方法
要約
(EN)
A reflectivity variable sensor is provided with a self-organized fine particle single layer film formed on a prescribed substrate; and a noble metal film formed on the self-organized fine particle single layer film. The sensor detects a substance to be detected by reflectivity change due to adsorption of the substance on the noble metal film.
(FR)
Le capteur variable en réflectivité comporte une pellicule monocouche de fines particules auto-organisées déposée sur un substrat prédéterminé ; et une pellicule de métal noble déposée sur la pellicule monocouche de fines particules auto-organisées. Le capteur détecte une substance à détecter par une modification de sa réflectivité due à l’adsorption de la substance par la pellicule de métal noble.
(JA)
 所定の基板上に形成された自己組織化微粒子単層膜と、前記自己組織化微粒子単層膜上に形成された貴金属膜とを具え、前記貴金属膜に対して被検知物質が吸着することによる反射率変化によって、前記被検知物質を検知することを特徴とする、反射率変化型センサを提供する。
他の公開
EP6757031
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