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1. (WO2006112470) 分析装置、この分析装置における測光機構のクリーニング方法およびクリーニング用具
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/112470    国際出願番号:    PCT/JP2006/308192
国際公開日: 26.10.2006 国際出願日: 19.04.2006
IPC:
G01N 21/78 (2006.01)
出願人: ARKRAY, Inc. [JP/JP]; 57, Nishiaketa-cho, Higashikujo, Minami-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6018045 (JP) (米国を除く全ての指定国).
FUJIWARA, Toshinori [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TANJI, Hideki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
USAGAWA, Naoyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: FUJIWARA, Toshinori; (JP).
TANJI, Hideki; (JP).
USAGAWA, Naoyuki; (JP)
代理人: YOSHIDA, Minoru; 2-32-1301, Tamatsukuri-motomachi, Tennoji-ku, Osaka-shi, Osaka 5430014 (JP)
優先権情報:
2005-121833 20.04.2005 JP
発明の名称: (EN) ANALYZER, METHOD FOR CLEANING PHOTOMETRY MECHANISM IN SUCH ANALYZER, AND CLEANING TOOL
(FR) ANALYSEUR, PROCEDE DE NETTOYAGE DE MECANISME DE PHOTOMETRIE DANS CET ANALYSEUR, ET OUTIL DE NETTOYAGE
(JA) 分析装置、この分析装置における測光機構のクリーニング方法およびクリーニング用具
要約: front page image
(EN)An analyzer (1) is provided with a photometry mechanism (6) for performing photometry to a reagent pad of an analyzing tool whereupon a sample is mounted, and a table (4) having a placing section (41) for placing the analyzing tool. A cleaning tool (22) is placed on the table (4), and an outgoing plane (68) or an incoming plane (68) of a light from a light emitting element (66) in the photometry mechanism (6) is configured to be cleaned. Furthermore, the cleaning tool (22) for cleaning the photometry mechanism (6) of the analyzer (1) is provided.
(FR)La présente invention décrit un analyseur (1) doté d’un mécanisme de photométrie (6) pour réaliser la photométrie d’un tampon réactif d’un outil d’analyse sur lequel est installé un échantillon, et une table (4) ayant une partie de positionnement (41) pour positionner l’outil d’analyse. Un outil de nettoyage (22) est placé sur la table (4), et un plan sortant (68) ou un plan entrant (68) d’une lumière depuis un élément d’émission de lumière (66) dans le mécanisme de photométrie (6) est configuré pour être nettoyé. En outre, l’outil de nettoyage (22) pour le nettoyage du mécanisme de photométrie (6) de l’analyseur (1) est fourni.
(JA) 本発明は、試料が点着された分析用具の試薬パッドを測光するための測光機構(6)と、分析用具を載置するための載置部(41)を有するテーブル(4)と、を備えた分析装置(1)に関する。テーブル(4)にクリーニング用具(22)を載置して、測光機構(6)における発光素子(66)からの光の出射面(68)または入射面(68)をクリーニングするように構成した。本発明ではさらに、分析装置(1)の測光機構(6)をクリーニングするためのクリーニング用具(22)が提供される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)