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1. (WO2006112084) 蛍光X線分析装置およびそれに用いるプログラム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/112084    国際出願番号:    PCT/JP2005/022552
国際公開日: 26.10.2006 国際出願日: 08.12.2005
IPC:
G01N 23/223 (2006.01)
出願人: RIGAKU INDUSTRIAL CORPORATION [JP/JP]; 14-8, Akaoji-cho Takatsuki-shi, Osaka 5691146 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KAWAHARA, Naoki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
HARA, Shinya [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KAWAHARA, Naoki; (JP).
HARA, Shinya; (JP)
代理人: SUGIMOTO, Shuji; Higobashi Nittai Bldg. 10-2, Edobori 1-chome Nishi-ku, Osaka-shi, Osaka 5500002 (JP)
優先権情報:
2005-109503 06.04.2005 JP
発明の名称: (EN) FLUORESCENCE X-RAY SPECTROSCOPE AND PROGRAM USED THEREFORE
(FR) SPECTROSCOPE DE FLUORESCENCE PAR RAYONS X ET PROGRAMME UTILISE PAR CE SPECTROSCOPE
(JA) 蛍光X線分析装置およびそれに用いるプログラム
要約: front page image
(EN)A florescence X-ray spectroscope for analyzing the composition and area density of a sample by the FP method. The spectroscope computes the theoretical intensities of various samples in a simple way in adequate consideration of the geometry effect and in line with the reality and enables strictly accurate quantitative analysis. The spectroscope has computing means (10) in which the theoretical intensity of the secondary X-rays (6) generated from the elements of a sample (13) is computed according to a hypothetical composition, the hypothetical composition is corrected by computation in a successive approximation way so that the theoretical intensity may agree with the converted measured intensity determined by converting the intensity measured by detecting means (9) into a theoretical intensity scale, and the composition of the sample (13) is computed. The computing means (10) computes the theoretical intensity of the secondary X-rays (6) by simulation for each optical path while using as parameters the size of the sample (13), the intensities of the primary X-rays (2) applied to portions of the sample surfaces (13a), and the angle of incidence &phgr;.
(FR)L’invention porte sur un spectroscope de fluorescence par rayons X pour analyser la composition et la densité de surface d'un échantillon par la méthode FP. Le spectroscope calcule les intensités théoriques de divers échantillons d'une manière simple, en prenant en considération l'effet géométrique de manière adéquate et conformément à la réalité, et permet des analyses quantitatives extrêmement précises. Le spectroscope a des moyens de calcul (10) par lesquels l'intensité théorique des rayons X secondaires (6) générés depuis les éléments d'un échantillon (13) est calculée selon une composition hypothétique, ladite composition hypothétique est corrigée par calcul selon une méthode d'approximation successive, de façon à ce que l'intensité théorique puisse être en accord avec l'intensité mesurée convertie, déterminée en convertissant l'intensité mesurée par des moyens de détection (9) en une échelle théorique d'intensité, et la composition de l'échantillon (13) est calculée. Les moyens de calcul (10) calculent l'intensité théorique des rayons X secondaires (16) par simulation de chaque chemin optique, tout en utilisant en tant que paramètres la taille de l'échantillon (13), les intensités des rayons X primaires (2) appliqués à des portions de surfaces de l'échantillon (13a), et l'angle d’incidence &phgr;.
(JA) FP法で試料の組成や面積密度を分析する蛍光X線分析装置などにおいて、種々の試料について、簡便にしかもジオメトリ効果を十分現実に則し加味して理論強度を計算し、十分正確に定量分析できるものを提供する。仮定した組成に基づいて、試料13中の各元素から発生する2次X線6 の理論強度を計算し、その理論強度と検出手段9 で測定した測定強度を理論強度スケールに換算した換算測定強度とが一致するように、仮定した組成を逐次近似的に修正計算して、試料13の組成を算出する算出手段10とを備え、その算出手段10が、理論強度を計算するにあたり、試料13の大きさ、ならびに試料表面13a の各位置に照射される1次X線2 の強度および入射角φをパラメータとして、光路ごとに2次X線6 の理論強度をシミュレーション計算する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)