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1. (WO2006106818) 走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びそれを具備する走査型プローブ顕微鏡
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/106818    国際出願番号:    PCT/JP2006/306648
国際公開日: 12.10.2006 国際出願日: 30.03.2006
予備審査請求日:    31.10.2006    
IPC:
G01Q 10/00 (2010.01), G01Q 60/02 (2010.01), G01Q 70/10 (2010.01), G01Q 70/14 (2010.01), G01Q 70/16 (2010.01)
出願人: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY [JP/JP]; 1-8, Honcho 4-chome, Kawaguchi-shi, Saitama 3320012 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SII NANOTECHNOLOGY INC. [JP/JP]; 8, Nakase 1-chome, Mihama-ku, Chiba-shi, Chiba 2618507 (JP) (米国を除く全ての指定国).
MARUYAMA, Kenichi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SUZUKI, Koji [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
IYOKI, Masato [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: MARUYAMA, Kenichi; (JP).
SUZUKI, Koji; (JP).
IYOKI, Masato; (JP)
代理人: TANIGAWA, Hidejiro; c/o TANIGAWA AND ASSOCIATES, Patent Firm, 6F, Iwata Bldg., 5-12, Iidabashi 4-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 102-0072 (JP)
優先権情報:
2005-100934 31.03.2005 JP
発明の名称: (EN) CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT
(FR) SUPPORT EN CONSOLE POUR MICROSCOPE A SONDE DE BALAYAGE ET MICROSCOPE A SONDE DE BALAYAGE EQUIPE DE CELUI-CI
(JA) 走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びそれを具備する走査型プローブ顕微鏡
要約: front page image
(EN)A microscope including both an interatomic force microscope and a near-field optical microscope and capable of performing electrochemical measurement and a cantilever for the microscope. A pointed light-transmitting material employed as the probe of an interatomic force microscope is coated with a metal layer, the metal layer is further coated with an insulating layer, the insulating layer is removed only at the distal end to expose the metal layer, the slightly exposed metal layer is employed as a working electrode, and the probe can be employed not only as the probe of the interatomic force microscope and the near-field optical microscope but also as the electrode of an electrochemical microscope. Consequently, the microscope can have the functions of an interatomic force microscope, a near-field optical microscope and an electrochemical microscope.
(FR)L’invention concerne un microscope comportant un microscope à forces interatomiques et un microscope optique en champ proche, et capable d’effectuer des mesures électrochimiques. L’invention concerne également un support en console pour le microscope. Une matière en pointe transmettant la lumière utilisée comme sonde d’un microscope à forces interatomiques est enduite d’une couche métallique, la couche métallique est ensuite enduite d’une couche isolante, la couche isolante est éliminée uniquement au niveau de l’extrémité distale pour exposer la couche métallique, la couche métallique légèrement exposée est utilisée comme électrode de travail, et la sonde peut être utilisée non seulement comme sonde du microscope optique en champ proche, mais aussi comme électrode d’un microscope électrochimique. Le microscope peut donc remplir les fonctions d’un microscope à forces interatomiques, d’un microscope optique en champ proche et d’un microscope électrochimique.
(JA) 原子間力顕微鏡と近接場光学顕微鏡を兼備した顕微鏡で電気化学測定も行うことができる顕微鏡及びそのためのカンチレバーが開示されている。原子間力顕微鏡のプローブとして用いられる、先端が尖った光透過性材料を金属層で被覆し、さらに該金属層を絶縁層で被覆し、先端部のみ絶縁層を除去して金属層を露出させ、この僅かに露出した金属層を作用電極として用いることにより、該プローブを原子間力顕微鏡及び近接場光学顕微鏡のプローブとしてのみならず、電気化学顕微鏡の電極としても用いることができ、それによって、原子間力顕微鏡、近接場光学顕微鏡及び電気化学顕微鏡の機能を兼備させることができる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)