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1. (WO2006104184) DLP式スリット光走査顕微鏡

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/104184    国際出願番号:    PCT/JP2006/306410
国際公開日: 05.10.2006 国際出願日: 29.03.2006
G02B 21/06 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/36 (2006.01)
出願人: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION, HAMAMATSU UNIVERSITY SCHOOL OF MEDICINE [JP/JP]; 20-1, Handayama 1-chome, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4313192 (JP) (米国を除く全ての指定国).
TERAKAWA, Susumu [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SAKURAI, Takashi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
WAKAZONO, Yoshihiko [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
YAMAMOTO, Seiji [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: TERAKAWA, Susumu; (JP).
SAKURAI, Takashi; (JP).
WAKAZONO, Yoshihiko; (JP).
代理人: INOGUCHI, Hisashi; 4th Floor, Ohki Building, 45-7, Kabukicho 2-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1600021 (JP)
2005-094188 29.03.2005 JP
(JA) DLP式スリット光走査顕微鏡
要約: front page image
(EN)A DLP type slit scanning microscope by which a slit beam is applied under DMD control, slit beam lighting is performed, and a position and a range of the illuminating light on a sample and a width of a slit for lighting the sample can be easily adjusted. Laser beams are diffused by a concave lens (2) and focused on a back focal plane of a super high numerical aperture objective lens (7) by a convex lens (3). In a DMD device (4), a micromirror is controlled to turn on in a slit shape. The slit beam is reflected by a dichroic mirror (5), passes through the back focal plane, enters the super high numerical aperture objective lens (7), and is refracted to reach the sample on a cover glass (8) such as a cell. The slit beam diagonally enters the sample and a cut surface is lighted in a slit-shape.
(FR)La présente invention concerne un microscope à balayage à fente de type DLP dans lequel un faisceau à fente est appliqué sous commande DMD, un éclairage à tel faisceau est réalisé, et une position et une gamme de la lumière d’éclairage sur un échantillon ainsi qu’une largeur d’une fente pour éclairer l’échantillon sont facilement réglables. Des faisceaux laser sont diffusés par une lentille concave (2) et focalisés par une lentille convexe (3) sur un plan focal arrière d’un objectif à ouverture numérique ultra-élevée (7). Dans un dispositif DMD (4), un micro-miroir est commandé pour adopter une forme de fente. Le faisceau à fente est réfléchi par un miroir dichroïque (5), traverse le plan focal arrière, entre dans l’objectif à ouverture numérique ultra-élevée (7) et est réfracté pour atteindre l’échantillon sur un couvre-objet (8), par exemple une cellule. Le faisceau à fente pénètre dans l’échantillon et une surface de coupe est éclairée en forme de fente.
(JA) DMDの制御の下にスリット光を照射して、スリット光照明を実現し、標本上の照明光の位置及び範囲並びに標本を照射するスリットの厚さ(太さ)を容易に調整することができるDLP式スリット光走査顕微鏡を提供する。  レーザ光は凹レンズ2で発散され凸レンズ3によって超高開口数対物レンズ7の後焦点面に集束される。DMD装置4ではスリット状にマイクロミラーがオン制御される。スリット光はダイクロイックミラー5で反射され、後焦点面を通過して超高開口数対物レンズ7に入射し、屈折されてカバーガラス8上の細胞などの標本に達する。標本には斜めに入射しスリット状に切断面が照射される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)