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1. (WO2006100926) 光カプラ調心方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/100926    国際出願番号:    PCT/JP2006/304556
国際公開日: 28.09.2006 国際出願日: 09.03.2006
IPC:
G02B 6/30 (2006.01)
出願人: MORITEX CORPORATION [JP/JP]; 3-1-14, Jingu-mae Shibuya-ku, Tokyo 1500001 (JP) (米国を除く全ての指定国).
OYAGI, Akira [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
ONO, Takeshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
ARAKI, Shinya [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
MATSUSHITA, Yoichi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KOBAYASHI, Hiromitsu [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
DOI, Satoru [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
HARA, Tsuneaki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: OYAGI, Akira; (JP).
ONO, Takeshi; (JP).
ARAKI, Shinya; (JP).
MATSUSHITA, Yoichi; (JP).
KOBAYASHI, Hiromitsu; (JP).
DOI, Satoru; (JP).
HARA, Tsuneaki; (JP)
代理人: SAWANO, Katsufumi; SAWANO & ASSOCIATES Co-op Olympia 211 35-3, Jingumae 6-chome Shibuya-ku, Tokyo 1500001 (JP)
優先権情報:
2005-078955 18.03.2005 JP
発明の名称: (EN) ALIGNING METHOD OF PHOTOCOUPLER
(FR) PROCEDE D’ALIGNEMENT DE PHOTOCOUPLEUR
(JA) 光カプラ調心方法
要約: front page image
(EN)Three components are aligned collectively using one light quantity monitor without aligning two components individually when an input array and an output array are connected with a waveguide chip. When an arbitrary lamination interface reflecting light in the waveguide chip (10) is a reference surface BS, and a translucent region adjacent to the reference surface BS is a reference translucent layer BL, the input array (20) is fixed and the output array (30) is moved up and down and the vertical position of the output array (30) corresponding to the reference surface BS is detected based on the height and the light receiving intensity of the output array (30). Subsequently, the vertical position of the input array (20) corresponding to the reference surface BS is detected by fixing the output array (30) close to the height of the reference surface BS and moving the input array (20) up and down. The input array (20) and the output array (30) are moved to the right and left in accordance with the height of the core (14) of the waveguide chip (10), and rough alignment is performed based on the light receiving intensity followed by precise alignment.
(FR)La présente invention concerne un procédé d’alignement conjoint de trois composants à l’aide d’un contrôleur de quantité de lumière sans alignement distinct de deux composants, lorsqu’un réseau d’entrée et un réseau de sortie sont connectés à une puce de guide d’ondes. Si une interface laminée arbitraire qui réfléchit la lumière au niveau de la puce de guide d’ondes (10) constitue une surface de référence BS, une zone translucide adjacente à ladite surface BS constitue une couche translucide de référence BL, le réseau d’entrée (20) est fixe et le réseau de sortie (30) est déplacé verticalement, la position verticale du réseau de sortie (30) par rapport à la surface de référence BS est détectée en fonction de la hauteur et de l’intensité de réception de la lumière de ce réseau (30). Ensuite, la position verticale du réseau d’entrée (20) par rapport à la surface de référence BS est détectée en fixant le réseau de sortie (30) environ à la hauteur de la surface de référence BS et en déplaçant verticalement le réseau d’entrée (20). Le réseau d’entrée (20) et celui de sortie (30) sont déplacés horizontalement en fonction de la hauteur du cœur (14) de la puce de guide d’ondes (10), et un alignement approximatif est réalisé en fonction de l’intensité de réception de la lumière, puis un alignement précis.
(JA) 導波路チップに入射アレイ及び出射アレイを接続する場合に、二つずつ個別に調心することなく、三つの部品について一つの光量モニタで一括調心する。  導波路チップ10内で光を反射する任意の積層界面を基準面BSとし、該基準面BSに隣接する透光領域を基準透光層BLとしたときに、入射アレイ20を固定して出射アレイ30を上下動させることにより、出射アレイ30の高さと受光強度に基づいて基準面BSに対応する出射アレイ30の上下位置を検出する。  次いで、出射アレイ30を基準面BS高さに近接固定させて入射アレイ20を上下動させることにより、基準面BSに対応する入射アレイ20の上下位置を検出し、入射アレイ20及び出射アレイ30を導波路チップ10のコア14高さに合わせて左右に移動させることにより、その受光強度に基づいて粗調心を行った後、精密調心を行うようにした。  
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)