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1. (WO2006075750) 電子装置の測定方法及び測定装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/075750    国際出願番号:    PCT/JP2006/300476
国際公開日: 20.07.2006 国際出願日: 17.01.2006
IPC:
G01R 27/02 (2006.01)
出願人: TOHOKU UNIVERSITY [JP/JP]; 1-1, Katahira 2-chome, Aoba-ku, Sendai-shi, Miyagi 9808577 (JP) (米国を除く全ての指定国).
OHMI, Tadahiro [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TERAMOTO, Akinobu [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: OHMI, Tadahiro; (JP).
TERAMOTO, Akinobu; (JP)
代理人: IKEDA, Noriyasu; The Third Mori Building 4-10, Nishishinbashi 1-chome Minato-ku, Tokyo 1050003 (JP)
優先権情報:
2005-009482 17.01.2005 JP
発明の名称: (EN) ELECTRONIC DEVICE MEASURING METHOD AND ELECTRONIC DEVICE MEASURING APPARATUS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE MESURE D'UN DISPOSITIF ELECTRONIQUE
(JA) 電子装置の測定方法及び測定装置
要約: front page image
(EN)In a method for measuring an electronic device which is an object to be measured, a passive element is connected to the electronic device in parallel, and electric parameters of the electronic device are extracted by measuring an impedance of the entire circuit.
(FR)La présente invention concerne un procédé permettant de mesurer un dispositif électronique qui est un objet à mesurer, selon lequel un élément passif est connecté au dispositif électronique en parallèle, et des paramètres électriques de ce dispositif électronique sont extraits par mesure d'une impédance de la totalité du circuit.
(JA) 被測定物である電子装置の測定方法であって、上記電子装置に並列に受動素子を接続し、回路全体のインピーダンスを測定することにより、電子装置の電気的パラメータを抽出する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)