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1. (WO2006035647) 波形整形回路及びこの波形整形回路を備えた半導体試験装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2006/035647 国際出願番号: PCT/JP2005/017369
国際公開日: 06.04.2006 国際出願日: 21.09.2005
IPC:
G01R 31/3183 (2006.01) ,G01R 31/26 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28
電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
317
デジタル回路の試験
3181
機能試験
3183
試験入力,例.テストベクトル,パターンまたはシーケンス,の発生
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26
個々の半導体装置の試験
出願人:
株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 〒1790071 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 Tokyo 32-1, Asahicho 1-chome Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
落合 克己 OCHIAI, Katsumi [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
落合 克己 OCHIAI, Katsumi; JP
代理人:
渡辺 喜平 WATANABE, Kihei; 〒1010041 東京都千代田区神田須田町一丁目26番 芝信神田ビル3階 Tokyo Shibashin Kanda Bldg. 3rd Floor 26, Kanda Suda-cho 1-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1010041, JP
優先権情報:
10/952,67829.09.2004US
発明の名称: (EN) WAVEFORM SHAPING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS HAVING THAT WAVEFORM SHAPING CIRCUIT
(FR) CIRCUIT DE MISE EN FORME DE FORMES D’ONDE ET APPAREIL DE CONTROLE DE SEMICONDUCTEUR DOTE DE CE CIRCUIT DE MISE EN FORME DE FORMES D’ONDE
(JA) 波形整形回路及びこの波形整形回路を備えた半導体試験装置
要約:
(EN) A semiconductor testing apparatus for surely detecting only opened edges that affect a test pattern and hence truly requires an error warning or the like. This semiconductor testing apparatus comprises real time selectors (40) and open detectors (50). The real time selectors (40) receive a plurality of waveform data outputted from a waveform memory (30) and a plurality of timing data outputted from a timing generator (20) and select and output predetermined waveform data and timing data. If an edge of the waveform data is followed by an edge of the same polarity with an interval therebetween that is shorter than a close-in limit time, then the real time selectors (40) open the following edge and output open signals. The open detectors (50) receive the waveform data, timing data and open signals outputted from the real time selectors (40) and output a fail signal if there exists an edge, which has the opposite polarity to the opened edge, within the close-in limit time preceding the foregoing opened edge.
(FR) L’invention concerne un appareil de contrôle de semiconducteur permettant de détecter en toute fiabilité uniquement les flancs ouverts qui affectent un motif de contrôle et justifiant réellement une alarme d’erreur ou une alerte similaire. L’appareil de contrôle de semiconducteur selon l’invention comprend des sélecteurs en temps réel (40) et des détecteurs d’ouverture (50). Les sélecteurs en temps réel (40) reçoivent une pluralité de données de formes d’onde provenant d’une mémoire de formes d’onde (30) et une pluralité de données de synchronisation provenant d’un générateur de synchronisation (20) et sélectionnent et fournissent des données de formes d’onde et des données de synchronisation prédéterminées. Si un flanc des données de formes d’onde est suivi d’un flanc de même polarité qui en est séparé d’un intervalle inférieur à une durée limite de fermeture, les sélecteurs en temps réel (40) ouvrent alors le flanc suivant et fournissent des signaux d’ouverture. Les détecteurs d’ouverture (50) reçoivent les données de formes d’onde, les données de synchronisation et les signaux d’ouverture provenant des sélecteurs en temps réel (40) et fournissent un signal de défaillance s’il existe un flanc présentant une polarité opposée à celle du flanc ouvert dans la durée limite de fermeture précédant le flanc ouvert antérieur.
(JA)  オープンエッジがテストパターンに対して影響を与える真にエラー警告等が必要なオープンエッジのみを確実に検出する半導体試験装置である。この半導体試験装置は、波形メモリ30から出力される複数の波形データを入力するとともに、タイミング発生器20から出力される複数のタイミングデータを入力し、所定の波形データ及びタイミングデータを選択して出力し、波形データのエッジに近接制限時間より短い間隔で連続する同極性のエッジがある場合には、連続する後続のエッジをオープンしてオープン信号を出力するリアルタイムセレクタ40と、リアルタイムセレクタ40から出力される波形データ,タイミングデータ及びオープン信号を入力して、オープンされたエッジに先立つ近接制限時間内に、当該オープンエッジと逆極性のエッジがある場合に、フェイル信号を出力するオープンディテクタ50とを備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
KR1020070067110JPWO2006035647JP4657216