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1. (WO2006035644) 電子回路試験装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2006/035644 国際出願番号: PCT/JP2005/017364
国際公開日: 06.04.2006 国際出願日: 21.09.2005
IPC:
G01R 31/315 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28
電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
302
非接触試験
315
誘導法によるもの
出願人:
学校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY [JP/JP]; 〒1088345 東京都港区三田二丁目15番45号 Tokyo 15-45, Mita 2-chome Minato-ku, Tokyo 1088345, JP (AllExceptUS)
黒田 忠広 KURODA, Tadahiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
溝口 大介 MIZOGUCHI, Daisuke [JP/JP]; JP (UsOnly)
三浦 典之 MIURA, Noriyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
黒田 忠広 KURODA, Tadahiro; JP
溝口 大介 MIZOGUCHI, Daisuke; JP
三浦 典之 MIURA, Noriyuki; JP
代理人:
中村 和男 NAKAMURA, Kazuo; 〒1440051 東京都大田区西蒲田七丁目50番10号 中村ビル2階 中村国際特許事務所 Tokyo NAKAMURA INTERNATIONAL PATENT OFFICE Nakamura Bldg. 2F 50-10, Nishikamata 7-chome Ota-ku, Tokyo 1440051, JP
優先権情報:
2004-28926830.09.2004JP
発明の名称: (EN) ELECTRONIC CIRCUIT TESTING APPARATUS
(FR) APPAREIL DE TEST DE CIRCUIT ELECTRONIQUE
(JA) 電子回路試験装置
要約:
(EN) An electronic circuit testing apparatus suitable for testing an electronic circuit which performs communication between substrates by inductive coupling and for testing the electronic circuit even without using a testing pad. A probe (15) is interposed in a communication channel configured by the inductive coupling by first and second transfer coils (21a, 21b) and first and second reception coils (23a, 23b), and an LSI is tested by a tester (11), buffers (12, 13) and a Tx/Rx switch (14). Thus, necessity for providing a needle on the electronic circuit testing apparatus to make contact with a pad and a lead of the electronic circuit is eliminated and the life of the apparatus can be lengthened.
(FR) Appareil de test de circuit électronique adapté pour tester un circuit électronique qui effectue une communication entre des substrats par un couplage inductif et pour tester le circuit électronique même sans utiliser un bloc de test. Une sonde (15) est interposée dans un canal de communication configuré par le couplage inductif avec des première et seconde bobines de transfert (21a, 21b) et des première et seconde bobines de réception (23a, 23b), et un LSI est testé par un testeur (11), des mémoires tampons (12, 13) et un commutateur Tx/Rx (14). Ainsi, il n'est plus nécessaire de mettre à disposition une aiguille sur l’appareil de test de circuit électronique pour établir un contact avec un bloc et un fil du circuit électronique et la durée de vie de l’appareil peut être allongée.
(JA)  誘導性結合によって基板間通信を行う電子回路を試験するのに好適で、テスト用のパッドを使わなくても電子回路を試験することができる電子回路試験装置を提供することを課題として、第1、第2送信コイル21a、21b、及び第1、第2受信コイル23a、23bによる誘導性結合で構成される通信チャネルにプローブ15を介入させて、テスタ11、バッファ12、13、及びTx/Rxスイッチ14によってLSIを試験する。これにより、電子回路試験装置に電子回路のパッドやリードと接触する針を設ける必要がなくなり寿命を長くすることができる。  
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指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
KR1020070067160US20080258744