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1. (WO2006033357) 試験シミュレータ、試験シミュレーションプログラム、及び記録媒体
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/033357    国際出願番号:    PCT/JP2005/017396
国際公開日: 30.03.2006 国際出願日: 21.09.2005
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
TADA, Hideki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
HORI, Mitsuo [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KATAOKA, Takahiro [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: TADA, Hideki; (JP).
HORI, Mitsuo; (JP).
KATAOKA, Takahiro; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105 (JP)
優先権情報:
2004-278582 24.09.2004 JP
発明の名称: (EN) TEST SIMULATOR, TEST SIMULATION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
(FR) SIMULATEUR D'ESSAI, PROGRAMME DE SIMULATION D'ESSAI ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
(JA) 試験シミュレータ、試験シミュレーションプログラム、及び記録媒体
要約: front page image
(EN)A test simulator is provided for simulating a semiconductor device test. The test simulator is provided with a test pattern holding means for holding an existing test pattern to be given to a semiconductor device; a device output holding means for previously holding an output to be obtained from the semiconductor device when the existing test pattern is given; a test pattern generating means for generating a new test pattern to be given to the semiconductor device; a test pattern judging means for judging whether the new test pattern is the same as the existing test pattern; and a simulation skipping means for skipping at least a part of a simulation test by reading out the output from the device output holding means without giving the new test pattern to the semiconductor device when the test patterns are same and by permitting the read out output to be an output for the new test pattern.
(FR)Cette invention porte sur un simulateur d'essai prévu pour simuler un essai de dispositif semi-conducteur. Ce simulateur d'essai est pourvu d'un moyen de maintien d'un motif d'essai pour maintenir un motif d'essai existant à donner à un dispositif semi-conducteur, d'un moyen de maintien de sortie de dispositif pour maintenir antérieurement une sortie à obtenir du dispositif semi-conducteur lorsque le motif d'essai existant est donné, d'un moyen de production de motif d'essai pour produire un nouveau motif d'essai à donner au dispositif semi-conducteur, d'un moyen de jugement de motif d'essai pour juger si le nouveau motif d'essai est le même que le motif d'essai existant et d'un moyen de saut de simulation pour sauter au moins une partie d'un essai de simulation en lisant la sortie venant du moyen de maintien de sortie du dispositif sans donner le nouveau motif d'essai au dispositif semi-conducteur lorsque les motifs d'essai sont les mêmes et en permettant à la sortie lue d'être une sortie pour le nouveau motif d'essai.
(JA) 半導体デバイスの試験をシミュレートする試験シミュレータであって、半導体デバイスに与えるべき既存の試験パターンを保持する試験パターン保持手段と、既存の試験パターンを与えた場合に半導体デバイスから得られるべき出力を予め保持するデバイス出力保持手段と、半導体デバイスに与えるべき新たな試験パターンを生成する試験パターン生成手段と、新たな試験パターンが既存の試験パターンと同一であるか否かを判断する試験パターン判断手段と、試験パターンが同一である場合に、半導体デバイスに新たな試験パターンを与えることなく、デバイス出力保持手段から出力を読み出して、新たな試験パターンに対する出力とすることにより、シミュレーション試験の少なくとも一部をスキップするシミュレーションスキップ手段とを備える試験シミュレータを提供する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)