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1. (WO2006025158) 光学的測定装置および方法並びにナノ粒子測定方法および装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/025158    国際出願番号:    PCT/JP2005/013189
国際公開日: 09.03.2006 国際出願日: 15.07.2005
IPC:
G01N 15/02 (2006.01), G01N 21/47 (2006.01)
出願人: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabaracho Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511 (JP) (米国を除く全ての指定国).
MORIYA, Naoji [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TOTOKI, Shinichiro [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
NAGUMO, Yuzo [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
WADA, Yukihisa [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SAKAUCHI, Naofumi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
INOUE, Fujio [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TAKEBE, Masahiro [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
MASUTOMI, Makiko [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: MORIYA, Naoji; (JP).
TOTOKI, Shinichiro; (JP).
NAGUMO, Yuzo; (JP).
WADA, Yukihisa; (JP).
SAKAUCHI, Naofumi; (JP).
INOUE, Fujio; (JP).
TAKEBE, Masahiro; (JP).
MASUTOMI, Tatsuaki;
代理人: KAWASAKI, Masaki; Room 606, Keihan Marquis Umeda 5-5, Nishitemma 4-chome Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300047 (JP)
優先権情報:
2004-250589 30.08.2004 JP
2004-266768 14.09.2004 JP
発明の名称: (EN) OPTICAL MEASURING DEVICE AND METHOD, NANOPARTICLE MEASURING METHOD AND DEVICE
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE DE MESURE OPTIQUE, PROCEDE ET DISPOSITIF DE MESURE DE NANOPARTICULES
(JA) 光学的測定装置および方法並びにナノ粒子測定方法および装置
要約: front page image
(EN)An optical measuring device for performing measurement using a transient diffraction grating method through only adjustment of probe light and a nanoparticle measuring device employing a similar principle. The optical measuring device comprises a power supply (15) , a container (11) for hoiding a sample, a pair of electrodes (13, 14) for generating an electric line of force distribution where regions of high electric line of force density and regions of low electric line of force density are arrangeed regularly, a dielectrophoresis control section (19) for controlling the generation of transient diffraction grating utilizing dielectrophoresis of particles in a sample caused by applying a voltage to the paired electrodes (13, 14) and the variation in transient diffraction grating due to diffusion of particles in the sample caused by the variation in applied voltage, a light source (16) for irradiating the transient diffraction grating with light, and a photodetector (18) for detecting light diffracted by the transient diffraction grating. Particles are evaluated from variation in intensity of light diffracted by the transient diffraction grating. The particle diameter of nanoparticles is measured by a similar principle, thus enhancing the signal strength, the sensitivity and the S/N ratio as compared with the dynamic scattering method.
(FR)La présente invention a trait à un dispositif de mesure optique pour la réalisation de mesure à l'aide d'un procédé basé sur un réseau de diffraction transitoire par le seul ajustement de lumière de sonde et un dispositif de mesure de nanoparticules mettant en oeuvre un tel principe. Le dispositif de mesure optique comporte une alimentation (15), un contenant (11) pour renfermer un échantillon, une paire d'électrodes (13, 14) pour la génération d'une distribution de lignes de force électrique où des zones de forte densité de lignes de force électrique et des zones de faible densité de lignes de force électrique sont disposées de manière uniforme, une section de commande de diélectrophorèse (19) pour la commande de la génération de réseau de diffraction transitoire au moyen d'une diélectrophorèse de particules dans un échantillon provoquée par l'application d'une tension à la paire d'électrodes (13, 14) et la variation dans le réseau de diffraction transitoire due à la diffusion de particules dans l'échantillon entraînée par la variation dans la tension appliquée, une source lumineuse (16) pour l'irradiation du réseau de diffraction transitoire, et un photodétecteur (18) pour la détection de la lumière diffractée par le réseau de diffraction transitoire. Des particules sont évaluées à partir de la variation en intensité de la lumière diffractée par le réseau de diffraction transitoire. Le diamètre de particule des nanoparticules est mesuré par un principe identique, améliorant ainsi l'intensité de signal, la sensibilité et le rapport signal/bruit par rapport au procédé de diffusion dynamique.
(JA) プローブ光の調整のみで過渡回折格子法を用いた測定ができる光学的測定装置と、同様の原理を用いたナノ粒子測定装置を提供する。電源15と、試料を保持する容器11、電気力線密度が高い領域と電気力線密度が低い領域とが規則的に並ぶ電気力線分布を発生させる電極対13,14と、電極対13,14への電圧の印加による試料中の粒子の誘電泳動を利用した過渡回折格子の発生と電圧印加の変化に伴う試料中の粒子の拡散による過渡回折格子の変化を制御する誘電泳動制御部19と、過渡回折格子に向けて光を照射する光源16と、過渡回折格子による回折光を検出する光検出器18を備え、過渡回折格子によって生じる回折光の強度変化から粒子に関する評価を行う。また、これと同じ原理でナノ粒子の粒子径等を測定することにより、動的散乱法に比して信号強度が強く、感度およびS/Nの向上を可能とする。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)