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1. (WO2006022088) 試験装置及び試験方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/022088    国際出願番号:    PCT/JP2005/012836
国際公開日: 02.03.2006 国際出願日: 12.07.2005
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SUGAYA, Tomoyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
NAKAYAMA, Hiroyasu [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: SUGAYA, Tomoyuki; (JP).
NAKAYAMA, Hiroyasu; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105 (JP)
優先権情報:
2004-242996 23.08.2004 JP
発明の名称: (EN) TESTER AND TESTING METHOD
(FR) TESTEUR ET PROCEDE D’ESSAI
(JA) 試験装置及び試験方法
要約: front page image
(EN)A tester for testing a device under test comprising a main memory having an expectation value pattern storage area for storing an expectation value pattern sequence to be sequentially compared with the output patterns sequentially outputted from a terminal of the device, a test pattern output section for sequentially inputting test patterns into the device to allow the device to sequentially output the output patterns, a capturing section for sequentially capturing the outputted output patterns and sequentially storing them in an output pattern storage area in the main memory, a memory read section for reading, from the main memory, an output pattern sequence composed at the captured output patterns and an expectation value pattern sequence when the output patterns are captured and stored in the output pattern storage area, and an expectation value comparing section for comparing the read expectation value pattern sequence and the output pattern sequence.
(FR)Testeur pour essayer un dispositif a l’essai comprenant une mémoire principale ayant une zone de stockage de motifs de valeurs probables pour stocker une séquence de motifs de valeurs probables à comparer séquentiellement avec les motifs de sortie sortis séquentiellement d’un terminal du dispositif, une section de sortie de motifs d’essai pour entrer séquentiellement des motifs d’essai dans le dispositif afin de permettre au dispositif de sortir séquentiellement les motifs de sortie, une section de saisie pour saisir séquentiellement les motifs de sortie sortis et les stocker séquentiellement dans une zone de stockage de motifs de sortie dans la mémoire principale, une section de lecture de mémoire pour lire, à partir de la mémoire principale, une séquence de motifs de sortie composée au niveau des motifs de sortie saisis et une séquence de motifs de valeurs probables lorsque les motifs de sortie sont saisis et stockés dans la zone de stockage de motifs de sortie, et une section de comparaison de valeurs probables pour comparer la séquence lue de motifs de valeurs probables et la séquence de motifs de sortie.
(JA) 被試験デバイスを試験する試験装置は、被試験デバイスの端子から順次出力される複数の出力パターンと順次比較されるべき期待値パターン列を格納する期待値パターン格納領域を有するメインメモリと、被試験デバイスに複数の試験パターンを順次入力することにより被試験デバイスから出力パターンを順次出力させる試験パターン出力部と、出力された出力パターンをメインメモリ上の出力パターン記憶領域に順次取り込むキャプチャ部と、出力パターンを出力パターン記憶領域に取り込む取込処理が終了した場合に、取り込んだ複数の出力パターンからなる出力パターン列、及び、期待値パターン列を、メインメモリから読み出すメモリ読出部と、読み出された期待値パターン列、及び、出力パターン列を比較する期待値比較部とを備える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)