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1. (WO2006019081) 試験エミュレータ、エミュレーションプログラム、及び半導体デバイス製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/019081    国際出願番号:    PCT/JP2005/014923
国際公開日: 23.02.2006 国際出願日: 15.08.2005
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
TADA, Hideki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
HORI, Mitsuo [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KATAOKA, Takahiro [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: TADA, Hideki; (JP).
HORI, Mitsuo; (JP).
KATAOKA, Takahiro; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105 (JP)
優先権情報:
2004-237758 17.08.2004 JP
発明の名称: (EN) TEST EMULATOR, EMULATION PROGRAM, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD
(FR) ÉMULATEUR TEST ; PROGRAMME D'ÉMULATION ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE SEMI-CONDUCTEUR
(JA) 試験エミュレータ、エミュレーションプログラム、及び半導体デバイス製造方法
要約: front page image
(EN)There is provided a test emulator for emulating a test of a semiconductor device. The test emulator includes: test pattern supply means for supplying a test pattern to a device simulator for simulating operation of a semiconductor device; expectation value storage means for storing a comparison timing for comparing an output signal outputted from the device simulator in accordance with the test pattern to a predetermined expectation value while correlating the comparison timing with the expectation value at the comparison timing; margin judgment means used when the output signal at the comparison timing has matched with the expectation value, for judging the size of the margin where the output signal is matched with the output signal; and report means for reporting to a user that the margin at the comparison timing is small when the margin size is smaller than a reference value.
(FR)On présente ici un émulateur test pour l'émulation d'un test d'un dispositif semi-conducteur. L'émulateur test comprend : un moyen d’introduction de modèle test pour fournir un modèle test à un simulateur d'appareil pour la simulation du fonctionnement d'un dispositif semi-conducteur; moyen de stockage de valeur pour le stockage d'une synchronisation de comparaison pour comparer un signal de sortie émis du simulateur de dispositif en fonction du modèle de test à une valeur d'attente prédéterminée tout en corrélant la synchronisation de comparaison avec la valeur d'attente à la synchronisation de comparaison ; moyen de jugement de marge utilisé quand le signal de sortie à la synchronisation de comparaison correspond à la valeur d'attente pour juger de la dimension de la marge où le signal de sortie correspond au signal de sortie; et un moyen de rapport pour faire le compte-rendu à un utilisateur que la marge à la synchronisation de comparaison est petite quand la dimension de marge est inférieure à une valeur de référence.
(JA) 半導体デバイスの試験をエミュレートする試験エミュレータであって、半導体デバイスの動作をシミュレートするデバイスシミュレータに対して試験パターンを供給する試験パターン供給手段と、試験パターンに応じてデバイスシミュレータから出力される出力信号を予め定められた期待値と比較する比較タイミングを、当該比較タイミングにおける期待値に対応付けて予め格納する期待値格納手段と、比較タイミングにおいて出力信号が期待値と一致した場合に、出力信号が期待値と一致するマージンの大きさを判断するマージン判断手段と、マージンの大きさが基準値よりも小さい場合に、比較タイミングにおけるマージンが小さい旨をユーザに通知する通知手段とを備える試験エミュレータを提供する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)