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1. (WO2006018947) 試験装置及び試験方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/018947    国際出願番号:    PCT/JP2005/013326
国際公開日: 23.02.2006 国際出願日: 20.07.2005
IPC:
G11C 29/56 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), G11C 16/02 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
DOI, Masaru [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: DOI, Masaru; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105 (JP)
優先権情報:
2004-241655 20.08.2004 JP
発明の名称: (EN) TEST DEVICE AND TEST METHOD
(FR) DISPOSITIF D’ESSAI ET PROCÉDÉ D’ESSAI
(JA) 試験装置及び試験方法
要約: front page image
(EN)There is provided a test device for testing a plurality of devices under test. The test device includes: a common pattern generation unit for generating a test signal common to the plurality of devices under test; a logic comparison unit arranged on each of the devices under test for judging whether a comparison result of an outputted result signal with a reference voltage coincides with an expected value; an addition pattern storage unit storing in advance an addition pattern to be added to the common pattern when the comparison result coincides with the expected value and when they do not coincide; and a separate pattern addition unit arranged on each of the devices under test for reading out the separate addition pattern to the device under test, adding it to the common pattern, and giving it to the device under test according to the result whether the comparison result coincides with the expected value.
(FR)Il est proposé un dispositif d’essai conçu pour essayer une pluralité de dispositifs à l’essai. Le dispositif d’essai comprend : une unité de génération de séquence commune adaptée pour générer un signal d’essai commun à la pluralité de dispositifs à l’essai ; une unité de comparaison logique, agencée sur chacun des dispositifs à l’essai, permettant d’évaluer si un résultat de comparaison d’un signal de résultat sorti avec une tension de référence correspond à une valeur attendue ; une unité de mémorisation de séquence d’addition mémorisant à l’avance une séquence d’addition devant être ajoutée à la séquence commune quand le résultat de comparaison correspond à la valeur attendue et quand ils ne correspondent pas ; et une unité d’addition de séquence séparée, agencée sur chacun des dispositifs à l’essai, permettant de lire la séquence d’addition séparée au dispositif à l’essai, de l’ajouter à la séquence commune et de la transmettre au dispositif à l’essai en fonction du résultat si le résultat de comparaison correspond à la valeur attendue.
(JA) 複数の被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の被試験デバイスに共通の試験信号のパターンを発生する共通パターン発生部と、被試験デバイス毎に設けられ、出力される結果信号と基準電圧との比較結果が期待値と一致するか否かを判定する論理比較部と、比較結果が期待値と一致する場合及び一致しない場合のそれぞれにおいて、共通パターンに付加すべき付加パターンを予め格納している付加パターン格納部と、被試験デバイス毎に設けられ、比較結果が期待値と一致するか否かに基づいて、当該被試験デバイスに個別の付加パターンを読み出し、共通パターンに付加して被試験デバイスに与える個別パターン付加部とを備える試験装置を提供する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)