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1. (WO2006013915) ディスプレイパネルの検査方法、検査装置および製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2006/013915    国際出願番号:    PCT/JP2005/014275
国際公開日: 09.02.2006 国際出願日: 04.08.2005
IPC:
G01B 21/02 (2006.01), G01B 11/02 (2006.01), H01J 9/42 (2006.01), H01J 11/02 (2006.01)
出願人: TORAY INDUSTRIES, INC. [JP/JP]; 2-1, Nihonbashi Muromachi 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1038666 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KURAMATA, Osamu [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SASAMOTO, Hiromichi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SHIMIZU, Yasuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KURAMATA, Osamu; (JP).
SASAMOTO, Hiromichi; (JP).
SHIMIZU, Yasuki; (JP)
代理人: BAN, Toshimitsu; Ban & Associates Shinko Bldg. 1-9, Nishishinjuku 8-chome Shinjuku-ku Tokyo 1600023 (JP)
優先権情報:
2004-229676 05.08.2004 JP
発明の名称: (EN) METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY PANEL AND METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY PANEL
(FR) MÉTHODE ET APPAREIL POUR INSPECTER LES PANNEAUX D'AFFICHAGE ET MÉTHODE DE FABRICATION DE PANNEAUX D'AFFICHAGE
(JA) ディスプレイパネルの検査方法、検査装置および製造方法
要約: front page image
(EN)A method and an apparatus for inspecting a display panel are characterized in that a height measuring means is provided, the height of a board plane including a liquid material applied part is discretely measured, while a board or the height measuring means is being shifted in a direction intersecting the liquid material, which is applied in a plurality of strips at prescribed intervals on the board, the height by the liquid material strip is extracted from a height shape signal obtained by making the obtained discrete height shape signals proximate, a series of the height signals are permitted to be inspection signals, and an application quantity of each liquid material strip is measured by the inspection signal. A manufacturing method using the inspection method and the inspection apparatus is also provided. A problem which caused continuous defects generated in an application process is rapidly detected by inspecting the status of the application process immediately after the fluorescent paste applying process to suppress the number of boards to be nonconforming products that cause a loss at minimum, and the process can be immediately recovered.
(FR)L'invention décrit une méthode et un appareil pour inspecter un panneau d'affichage qui sont caractérisés en ce qu'ils comprennent un moyen de mesure de la hauteur, la hauteur d'un plan de tablette incluant une pièce recouverte de matériel liquide est discrètement mesurée, alors qu'une tablette ou le moyen de mesurer la hauteur est décalé dans une direction qui croise le matériel liquide, qui est appliqué en une pluralité de bandes à des intervalles donnés sur la tablette, la hauteur multipliée par la bande de matériel liquide est soustraite d'un signal de forme haute obtenu en rendant immédiate les signaux de forme de hauteur discrète, une série de signaux de hauteur sont permis d'être des signaux d'inspection, et une quantité d'application pour chaque bande de matériel liquide est mesurée par chaque signal d'inspection. Une méthode de fabrication utilisant la méthode d'inspection et l'appareil d'inspection sont aussi décrits. Un problème qui a provoqué des défauts continus générés dans un processus d'application est rapidement détecté en inspectant le statut du processus d'application immédiatement après le procédé d'application de la pâte fluorescente pour supprimer le nombre de tablettes comme étant des produits non conformes qui provoque au minimum une perte, et le procédé peut être immédiatement récupéré.
(JA) 高さ測定手段を有し、基板に所定の間隔で複数本塗布された液状材料と交差する方向へ、基板、または高さ測定手段を移動させながら、液状材料塗布部を含む基板面の高さ測定を離散的に行い、得られた離散高さ形状信号間を近似して求められた高さ形状信号から液状材料毎の高さを抜き出して連ねた高さ信号を検査信号とし、検査信号より液状材料毎の塗布量を測定することを特徴とするディスプレイパネルの検査方法、および検査装置並びにそれらを用いた製造方法。蛍光体ペースト塗布工程直後に塗布工程の状態を検査することで塗布工程に発生した連続欠陥の原因となる不具合を迅速に発見し、不良品となりロスとなる基板数を最小限に抑え、速やかに工程を復旧させることを可能にする。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)