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World Intellectual Property Organization
1. (WO2005106512) マニュアル試験用器具

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2005/106512    国際出願番号:    PCT/JP2004/006305
国際公開日: 10.11.2005 国際出願日: 30.04.2004
G01R 31/26 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
NAGASHIMA, Masanori [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: NAGASHIMA, Masanori; (JP)
代理人: HAYAKAWA, Yuzi; Arcadia Patent Firm, Suite 501 Hikawa-Annex No.2 9-5, Akasaka 6-chome Minato-ku Tokyo, 1070052 (JP)
(JA) マニュアル試験用器具
要約: front page image
(EN)A manual test device (1) is constituted by an IC device receiving member (2) which is removably fitted in a socket guide (6) and which is capable of controlling the planar position of an IC device (7) with respect to the connection terminal of a socket (51), and a height control device (3) having an abutment member (31) whose vertical position is variable and which abuts against the upper surface of the IC device (7) to control the vertical position of the IC device (7). The vertical position of the abutment member (31) can be changed by a combination of a block (35) formed with a plurality of grooves (351) different in depth, and a control member (34) formed with an arm section (342) adapted to fit in the grooves (351) in the block (35).
(FR)Un dispositif de test manuel (1) est composé d'un élément recevant un dispositif CI (2) qui est ajusté de façon amovible à un guide de support (6) et qui est capable de contrôler la position planaire d'un dispositif CI (7) par rapport au terminal de connexion d’un support (51), et un dispositif de contrôle de hauteur (3) ayant un élément de butée (31) dont la position verticale est variable et qui bute contre les surfaces supérieures du dispositif CI (7) pour contrôler la position verticale du dispositif CI (7). La position verticale de l'élément de butée (31) peut être changée par une combinaison d'un bloc (35) formé de plusieurs encoches (351) de profondeurs différentes, et d'un élément de contrôle (34) formé par une section à bras (342) ajustée pour s'adapter aux encoches (351) dans le bloc (35).
(JA) ソケットガイド6に脱着可能に装着され、ソケット51の接続端子に対するICデバイス7の平面方向の位置を規定することのできるICデバイス収容部材2と、高さ方向の位置が可変となっており、ICデバイス7の上面に当接してICデバイス7の高さ方向の位置を規制する当接部材31を有する高さ規制装置3とからマニュアル試験用器具1を構成する。当接部材31の高さ方向の位置は、深さの異なる溝351が複数形成されたブロック35と、そのブロック35の溝351に嵌る腕部342が形成された規制部材34との組み合わせによって変更することができる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)