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1. (WO2005091279) 光ピックアップ装置用の対物光学系、光ピックアップ装置及び光情報記録再生装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2005/091279    国際出願番号:    PCT/JP2005/004046
国際公開日: 29.09.2005 国際出願日: 09.03.2005
IPC:
G11B 7/135 (2012.01), G11B 7/00 (2006.01)
出願人: KONICA MINOLTA OPTO, INC. [JP/JP]; 2970, Ishikawa-machi Hachoiji-shi Tokyo 1928505 (JP) (米国を除く全ての指定国).
NOMURA, Eiji [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
HASHIMURA, Junji [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
NOGUCHI, Kazutaka [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KIMURA, Tohru [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: NOMURA, Eiji; (JP).
HASHIMURA, Junji; (JP).
NOGUCHI, Kazutaka; (JP).
KIMURA, Tohru; (JP)
優先権情報:
2004-081028 19.03.2004 JP
発明の名称: (EN) OBJECTIVE OPTICAL SYSTEM FOR OPTICAL PICKUP DEVICE, OPTICAL PICKUP DEVICE AND OPTICAL INFORMATION RECORDING/REPRODUCING DEVICE
(FR) SYSTEME OPTIQUE OBJECTIF POUR DISPOSITIF DE LECTURE OPTIQUE, DISPOSITIF DE LECTURE OPTIQUE ET DISPOSITIF D’ENREGISTREMENT/DE REPRODUCTION D’INFORMATIONS OPTIQUE
(JA) 光ピックアップ装置用の対物光学系、光ピックアップ装置及び光情報記録再生装置
要約: front page image
(EN)An objective optical system for an optical pick up device is composed of at least two optical elements, which are; an aberration correcting element having at least two phase structures of a first phase structure and a second structure, and a light collecting element having functions of collecting a first light flux projected from the aberration correcting element on an information recording plane of a first optical disc and collecting a second light flux projected from the aberration correcting element on an information recording plane of a second optical disc. The second phase structure has a function of suppressing changes of light collecting characteristics of the objective optical system due to wavelength change of the first light flux and/or changes of light collecting characteristics of the objective optical system due to environmental temperature change.
(FR)Un système optique objectif pour un dispositif de lecture optique est composé d’au moins deux éléments optiques, à savoir : un élément de correction d’aberration comprenant au moins deux structures de phase d’une première structure de phase et d’une deuxième structure de phase, et un élément de collecte de lumière ayant pour fonctions de collecter un premier flux de lumière projeté par l’élément de correction d’aberration sur une plan d’enregistrement d’informations d’un premier disque optique et de collecter un deuxième flux de lumière projeté par l’élément de correction d’aberration sur un plan d’enregistrement d’informations d’un deuxième disque optique. La deuxième structure de phase a pour fonction de supprimer les variations des caractéristiques de collecte de lumière du système optique objectif dues à des variations de longueur d’onde du premier flux de lumière et/ou les variations des caractéristiques de collecte de lumière du système optique objectif dues à des variations de température ambiante.
(JA) 本発明の光ピックアップ装置用の対物光学系は、第1位相構造と第2位相構造の少なくとも2つの位相構造を有する収差補正素子と、該収差補正素子から射出された前記第1光束を前記第1光ディスクの情報記録面上に集光させ、該収差補正素子から射出された前記第2光束を前記第2光ディスクの情報記録面上に集光させる機能を有する集光素子の少なくとも2つの光学素子から構成され、前記第2位相構造は前記第1光束の波長変化に伴う前記対物光学系の集光特性の変化及び/または環境温度変化に伴う前記対物光学系の集光特性の変化を抑制する機能を有する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)