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1. (WO2005091265) 有機ELパネルの駆動回路、有機EL表示装置および有機ELパネル駆動回路の検査装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2005/091265 国際出願番号: PCT/JP2005/005123
国際公開日: 29.09.2005 国際出願日: 22.03.2005
IPC:
G09G 3/20 (2006.01) ,G09G 3/30 (2006.01)
G 物理学
09
教育;暗号方法;表示;広告;シール
G
静的手段を用いて可変情報を表示する表示装置の制御のための装置または回路
3
陰極線管以外の可視的表示器にのみ関連した,制御装置または回路
20
マトリックス状に配置された個々の要素の組み合わせによりその集合を構成することによって多数の文字の集合,例.1頁,を表示するためのもの
G 物理学
09
教育;暗号方法;表示;広告;シール
G
静的手段を用いて可変情報を表示する表示装置の制御のための装置または回路
3
陰極線管以外の可視的表示器にのみ関連した,制御装置または回路
20
マトリックス状に配置された個々の要素の組み合わせによりその集合を構成することによって多数の文字の集合,例.1頁,を表示するためのもの
22
制御された光源を用いるもの
30
エレクトロルミネッセントパネルを用いるもの
出願人: MAEDE, Jun[JP/JP]; JP (UsOnly)
ABE, Shinichi[JP/JP]; JP (UsOnly)
FUJIKAWA, Akio[JP/JP]; JP (UsOnly)
FUJISAWA, Masanori[JP/JP]; JP (UsOnly)
ROHM CO., LTD[JP/JP]; 21, Saiin Mizosaki-cho, Ukyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6158585, JP (AllExceptUS)
発明者: MAEDE, Jun; JP
ABE, Shinichi; JP
FUJIKAWA, Akio; JP
FUJISAWA, Masanori; JP
代理人: KAJIYAMA, Tsuyoshi; 8-8-15-201, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku Tokyo 1600023, JP
優先権情報:
2004-08701324.03.2004JP
発明の名称: (EN) ORGANIC EL PANEL DRIVING CIRCUIT, ORGANIC EL DISPLAY DEVICE AND ORGANIC EL PANEL DRIVING CIRCUIT INSPECTING DEVICE
(FR) CIRCUIT D’ATTAQUE DE PANNEAU ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE, DISPOSITIF D’AFFICHAGE ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE ET DISPOSITIF D’INSPECTION DE CIRCUIT D’ATTAQUE ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE
(JA) 有機ELパネルの駆動回路、有機EL表示装置および有機ELパネル駆動回路の検査装置
要約:
(EN) An output current from each output terminal (X) of an organic EL panel driving circuit (10) to each column pin or each data line is selected by a switch scanning circuit (3) by sequentially turning on a plurality of switch circuits (SW) and is supplied to a resistor (RaRb) selected by a selector (2). A voltage value converted by the resistor is outputted to an external to compare the voltage value, and a current value of the output current from each output terminal (X) to each column pin or each data line is correct or not is tested. Thus, test time can be shortened.
(FR) Un courant de sortie circulant de chaque borne de sortie (X) d’un circuit d’attaque de panneau électroluminescent organique (10) à chaque broche de colonne ou chaque ligne de données est sélectionné par un circuit de balayage de commutation (3) par fermeture sélective d’une pluralité de circuits de commutation (SW) et est fourni à une résistance (RaRb) sélectionnée par un sélecteur (2). Une valeur de tension convertie par la résistance est fournie à une unité externe pour comparer la valeur de tension, et une valeur de courant du courant de sortie circulant de chaque borne de sortie (X) à chaque broche de colonne ou chaque ligne de données est contrôlée pour déterminer si elle est correcte ou non. La durée de contrôle peut donc être raccourcie.
(JA) not available
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指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)