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1. (WO2005078463) 試験装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2005/078463    国際出願番号:    PCT/JP2005/002350
国際公開日: 25.08.2005 国際出願日: 16.02.2005
IPC:
G01R 31/28 (2006.01), G06F 19/00 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho Nerima-ku Tokyo 179-0071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
MIYAZAKI, Masashi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
INABA, Kenji [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
MIURA, Toshiyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: MIYAZAKI, Masashi; (JP).
INABA, Kenji; (JP).
MIURA, Toshiyuki; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105 (JP)
優先権情報:
10/780,286 17.02.2004 US
発明の名称: (EN) TEST EQUIPMENT
(FR) ÉQUIPEMENT D’ESSAI
(JA) 試験装置
要約: front page image
(EN)Test equipment provided with a plurality of test module slots on which different types of test modules are selectively mounted. The test equipment is provided with a plurality of control modules, a setting information supplying means, an enable signal control means and a setting means. The control modules supply a plurality of the test modules with a control signal for controlling the operation of the test modules. The setting information supplying means supplies the control modules with hardware setting information so as to give a control signal corresponding to the specific test module to the specific test module among the test modules. The enable signal control means makes the specific test module generate an enable signal to supply it to the control module. The setting means sets the control module which has received the enable signal from the specific test module and makes the control module supply the specific test module with the control signal corresponding to the specific test module.
(FR)Équipement d’essai pourvu d’une pluralité de fentes de modules d’essai sur lesquelles différents types de modules d’essai sont montés sélectivement. L’équipement d’essai est pourvu d’une pluralité de modules de commande, d’un moyen de fourniture d’informations de réglage, d’un moyen de commande de signal d’activation et d’un moyen de réglage. Les modules de commande fournissent à la pluralité des modules d’essai un signal de commande pour contrôler l’exploitation des modules d’essai. Le moyen de fourniture d’informations de réglage fournit aux modules de commande des informations de réglage matériel de façon à donner un signal de commande correspondant au module d’essai spécifique parmi les modules d’essai. Le moyen de commande de signal d’activation fait en sorte que le module d’essai spécifique génère un signal d’activation pour l’acheminer au module de commande. Le moyen de réglage ajuste le module de commande ayant reçu le signal d’activation de la part du module d’essai spécifique et fait en sorte que le module de commande fournisse au module d’essai spécifique le signal de commande correspondant au module d’essai spécifique.
(JA) 異なる種類の試験モジュールが選択的に搭載される試験モジュールスロットを複数備える試験装置であって、複数の試験モジュールの動作を制御するための制御信号を、複数の試験モジュールにそれぞれ供給する複数の制御モジュールと、複数の試験モジュールのうちの特定の試験モジュールに、特定の試験モジュールに応じた制御信号を与えるべく、制御モジュールにハードウェア設定情報を供給する設定情報供給手段と、特定の試験モジュールにイネーブル信号を生成させ、制御モジュールに供給させるイネーブル信号制御手段と、特定の試験モジュールからイネーブル信号を受け取った制御モジュールを、特定の試験モジュールに応じた制御信号を特定の試験モジュールに供給させるべく設定させる設定手段とを備える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)