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1. (WO2005073740) 試験装置及び試験方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2005/073740    国際出願番号:    PCT/JP2005/000993
国際公開日: 11.08.2005 国際出願日: 26.01.2005
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
NISHIMINE, Hiroaki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
NIIJIMA, Hirokatsu [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
MIURA, Takeo [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: NISHIMINE, Hiroaki; (JP).
NIIJIMA, Hirokatsu; (JP).
MIURA, Takeo; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105 (JP)
優先権情報:
2004-021851 29.01.2004 JP
発明の名称: (EN) TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD
(FR) APPAREIL DE TEST ET PROCÉDÉ DE TEST
(JA) 試験装置及び試験方法
要約: front page image
(EN)A testing apparatus for testing a device (15), comprising a driver (122) that applies a test signal to the device (15); a comparator (128) that compares a result signal, which is outputted by the device (15) in response to the applied test signal, with a predetermined reference voltage; and a set voltage output part (110) that sets the voltage of the test signal to a predetermined voltage value in the case of reading the device (15), thereby terminating the transmission path of the result signal at the driver (122).
(FR)Un appareil de test destiné à tester un dispositif (15), comprenant un circuit d'attaque (122) qui applique un signal de test au dispositif (15), un comparateur (128) qui compare un signal résultant, lequel est fourni en sortie par le dispositif (15) en réponse au signal de test appliqué avec une tension de référence prédéterminée et une partie de fourniture en sortie de tension de réglage (110) qui règle la tension du signal de test à une valeur de tension prédéterminée dans le cas d'une lecture du dispositif (15), en refermant ainsi la ligne de transmission du signal résultant au niveau du circuit d'attaque (122).
(JA) 本発明の試験装置は、被試験デバイス15を試験する試験装置であって、被試験デバイス15に試験信号を印加するドライバ122と、印加された試験信号に対応して被試験デバイス15が出力した結果信号を、予め定められた基準電圧と比較するコンパレータ128と、被試験デバイス15に対して読込動作を行う場合に、試験信号の電圧を予め定められた電圧値に設定することにより、結果信号の伝送路をドライバ122に終端させる設定電圧出力部110とを備える。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)