処理中

しばらくお待ちください...

設定

設定

出願の表示

1. WO2005073738 - 位相測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体

公開番号 WO/2005/073738
公開日 11.08.2005
国際出願番号 PCT/JP2005/000933
国際出願日 19.01.2005
IPC
G01R 23/20 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
23周波数測定装置;周波数スペクトル分析装置
16スペクトル分析;フーリェ分析
20非線形歪の測定
G01R 25/00 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
25電圧と電流間または電圧間または電流間の位相角を測定する装置
CPC
G01R 23/20
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
23Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
16Spectrum analysis; Fourier analysis
20Measurement of non-linear distortion ; , e.g. harmonics or noise,
出願人
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST Corporation [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 黒澤 誠 KUROSAWA, Makoto [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 中田 寿一 NAKADA, Juichi [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 黒澤 誠 KUROSAWA, Makoto
  • 中田 寿一 NAKADA, Juichi
代理人
  • 細田 益稔 HOSODA, Masutoshi
優先権情報
2004-02337830.01.2004JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) PHASE MEASUREMENT DEVICE, METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DES PHASES, PROCÉDÉ, PROGRAMME, ET SUPPORT D’ENREGISTREMENT
(JA) 位相測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体
要約
(EN)
The phase of distortion of a signal outputted from an amplifier is measured. A phase measurement device (1) measures an output of an amplifier (20) when an input signal having input frequency components &ohgr;10, &ohgr;20 is given to the amplifier (20). The phase measurement device (1) includes: multipliers (34a, 34b) for orthogonally converting the output of the amplifier (20) by &ohgr;c; a phase acquisition unit (40) for acquiring phases &thetas;1, &thetas;2 of the input frequency components &ohgr;10, &ohgr;20 in the output of the multipliers (34a, 34b) and &thetas;3, &thetas;4 (tertiary distortion), &thetas;5, &thetas;6 (quintary distortion) of the distortion component; a match time/phase measurement unit (50) for measuring the match time &Dgr;t, when &thetas;1 coincides with &thetas;2 according to the acquisition result of the phase acquisition unit (40); and a distortion component phase measurement unit (60) for measuring phases &thetas;3 to &thetas;6 of the distortion component at the match time &Dgr;t according to the acquisition result of the phase acquisition unit (40). The phase acquisition unit (40) acquires at least one of &thetas;1 and &thetas;2, and &thetas;3, &thetas;5 (higher frequency than &thetas;1, &thetas;2) or &thetas;4, &thetas;6 (lower frequency than &thetas;1, &thetas;2).
(FR)
La phase de distorsion d’un signal émis par un amplificateur est mesurée. Un dispositif de mesure des phases (1) mesure un signal de sortie d’un amplificateur (20) lorsqu’un signal d’entrée ayant les composants de fréquence d’entrée &ohgr;10, &ohgr;20 est fourni à l’amplificateur (20). Le dispositif de mesure des phases (1) comprend : des multiplicateurs (34a, 34b) pour une conversion orthogonale du signal de sortie de l’amplificateur (20) en &ohgr;c ; une unité d’acquisition des phases (40) pour une acquisition des phases &thetas;1, &thetas;2 des composants de fréquence d’entrée &ohgr;10, &ohgr;20 dans le signal de sortie des multiplicateurs (34a, 34b) et &thetas;3, &thetas;4 (distorsion tertiaire), &thetas;5, &thetas;6 (distorsion quinternaire) du composant de distorsion ; une unité de mesure des phases/temps correspondant (50) pour mesurer le temps correspondant &Dgr;t, lorsque &thetas;1 coïncide avec &thetas;2 selon le résultat d’acquisition de l’unité d’acquisition des phases (40) ; et une unité de mesure des phases du composant de distorsion (60) pour mesurer les phases &thetas;3 à &thetas;6 du composant de distorsion au temps correspondant &Dgr;t selon le résultat d’acquisition de l’unité d’acquisition des phases (40). L’unité d’acquisition des phases (40) nécessite au moins un de &thetas;1 et &thetas;2, et &thetas;3, &thetas;5 (fréquence supérieure à &thetas;1, &thetas;2) ou &thetas;4, &thetas;6 (fréquence inférieure à &thetas;1, &thetas;2).
(JA)
 増幅器から出力される信号の歪みの位相を測定することを課題とする。入力周波数成分ω10、ω20を有する入力信号を増幅器20に与えた場合の、増幅器20の出力を測定する位相測定装置1であって、増幅器20の出力を、ωcによって直交変換する乗算器34a、34bと、乗算器34a、34bの出力における入力周波数成分ω10、ω20の位相θ1、θ2および歪み成分の位相θ3、θ4(3次歪み)、θ5、θ6(5次歪み)を取得する位相取得部40と、位相取得部40の取得結果に基づき、θ1およびθ2が一致する一致時間Δtを測定する一致時間・位相測定部50と、位相取得部40の取得結果に基づき、一致時間Δtにおける歪み成分の位相θ3~θ6を測定する歪み成分位相測定部60とを備え、位相取得部40は、θ1およびθ2のいずれか一つ以上と、θ3、θ5(θ1、θ2より高周波)またはθ4、θ6(θ1、θ2より低周波)を取得する。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報