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1. (WO2005044107) X線計測装置及びX線計測方法

Pub. No.:    WO/2005/044107    International Application No.:    PCT/JP2004/009866
Publication Date: Fri May 20 01:59:59 CEST 2005 International Filing Date: Tue Jul 06 01:59:59 CEST 2004
IPC: A61B 6/00
Applicants: HITACHI MEDICAL CORPORATION
株式会社日立メディコ
BABA, Rika
馬場 理香
UEDA, Ken
植田 健
Inventors: BABA, Rika
馬場 理香
UEDA, Ken
植田 健
Title: X線計測装置及びX線計測方法
Abstract:
本発明は、回転計測を適切な造影のタイミングで繰り返し行い、被検体の時間的変化の観察に適した良好な3次元像を得ることを可能にするX線計測技術を提供する。検査対象に照射するX線を発生するX線管と、検査対象に関する計測データを検出するX線検出器と、X線管とX線検出器を対向させて保持する保持装置と、検査対象に対するX線管およびX線検出器の相対位置を変化させる回転装置と、計測データの演算処理を行う制御処理装置とを有し、回転装置が往路回転を行う際にX線管がX線を発生すると共に検出器が計測データを収集し、回転装置が復路回転を行う際にX線管がX線を発生すると共に検出器が計測データを収集し、制御処理装置が往路回転終了から復路回転開始までの間隔時間および復路回転終了から往路回転開始までの間隔時間を回転毎に設定することを特徴とする。