WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2005040773) ハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法及び検査装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2005/040773 国際出願番号: PCT/JP2004/016053
国際公開日: 06.05.2005 国際出願日: 28.10.2004
IPC:
G01N 21/894 (2006.01)
出願人: KONDO, Takahiro[JP/JP]; JP (UsOnly)
AOKI, Yoichi[JP/JP]; JP (UsOnly)
MIZUTANI, Akihiro[JP/JP]; JP (UsOnly)
NGK INSULATORS, LTD.[JP/JP]; 2-56, Suda-cho, Mizuho-ku Nagoya-shi, Aichi 4678530, JP (AllExceptUS)
発明者: KONDO, Takahiro; JP
AOKI, Yoichi; JP
MIZUTANI, Akihiro; JP
代理人: WATANABE, Kazuhira; 3rd Fl., No.8 Kikuboshi Tower Building 20-18, Asakusabashi 3-chome Taito-ku, Tokyo 1110053, JP
優先権情報:
2003-36733928.10.2003JP
発明の名称: (EN) METHOD OF INSPECTING UNEVENNESS OF PARTITION SURFACE OF HONEYCOMB STRUCTURE AND INSPECTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE D'INSPECTION DES IRREGULARITES DE LA SURFACE DE SEPARATION D'UNE STRUCTURE EN NID D'ABEILLE
(JA) ハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法及び検査装置
要約: front page image
(EN) A method of inspecting the unevenness of the partition surface of a honeycomb structure comprising the steps of allowing a diffusion light to enter from the one end surface (8) side of a honeycomb structure (2) by a lighting means (3) and to exit from the other end surface (9) side after passing it through the inside of cells, allowing the exited diffusion light to pass through a translucent screen (4) disposed on the other end surface (9) side of the honeycomb structure (2) to act as a transmitted light, projecting a transmitted image (13) by means of the tone of the transmitted light onto the surface on the transmitted light side of the screen (4), picking up the transmitted image (13) projected on the screen (4) by an imaging means (5), and analyzing by an analyzing means (6) the gray level of the obtained image, thereby inspecting for each cell the level of the surface unevenness of the partition and hence enabling the simple inspection on the surface unevenness of the partition of the honeycomb structure (2).
(FR) L'invention concerne un procédé d'inspection des irrégularités de la surface de séparation d'une structure en nid d'abeille. Ce procédé consiste à: permettre à la lumière de diffusion émise par des dispositifs d'éclairage (3) de pénétrer par un côté de la surface d'extrémité (8) d'une structure en nid d'abeille (2) et de sortir de l'autre côté de la surface d'extrémité (9), en passant par l'intérieur des cellules, pour permettre à la lumière de diffusion sortante de traverser un écran translucide (4) placé sur ledit côté de la surface d'extrémité (9) de la structure en nid d'abeille (2) et d'agir telle une lumière transmise; projeter une image transmise (13) via le ton de la lumière transmise sur ladite surface, sur le côté de la lumière transmise de l'écran (4); saisir l'image transmise (13) projetée sur l'écran (4) au moyen d'un dispositif de formation d'image (5); et enfin, analyser au moyen d'un dispositif d'analyse (6) le niveau de gris de l'image obtenue, de manière à inspecter pour chaque cellule le degré d'irrégularité de la surface de séparation et permettre, par conséquent, l'inspection simple des irrégularités de la surface de séparation de la structure en nid d'abeille.
(JA)  本発明のハニカム構造体の隔壁表面の凹凸検査方法は、ハニカム構造体2の一方の端面8側から、照明手段3によって拡散光を入射させて、セルの内部を通過させた後にハニカム構造体2の他方の端面9側から出射させ、出射させた拡散光を、ハニカム構造体2の他方の端面9側に配設した半透明のスクリーン4を透過させて透過光としスクリーン4の透過光側の面上に透過光の明暗による透過像13を投影させ、スクリーン4上に投影させた透過像13を撮像手段5によって撮像させ、得られた画像の濃淡を解析手段6によって解析させることによって、隔壁の表面の凹凸の程度を、それぞれのセル毎に検査するものであり、ハニカム構造体2の隔壁表面の凹凸検査を簡便に行うことができる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)