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1. (WO2005031253) 3次元形状検出装置、撮像装置、及び、3次元形状検出プログラム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2005/031253    国際出願番号:    PCT/JP2004/014167
国際公開日: 07.04.2005 国際出願日: 28.09.2004
IPC:
G01B 11/25 (2006.01)
出願人: BROTHER KOGYO KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 15-1, Naeshiro-cho, Mizuho-ku Nagoya-shi, Aichi 4678561 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SASAKI, Hiroyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: SASAKI, Hiroyuki; (JP)
代理人: MATSUOKA, Shuhei; Shin-Toshi-Center Bldg. 6F 24-1, Tsurumaki 1-chome Tama-shi, Tokyo 2060034 (JP)
優先権情報:
2003-337066 29.09.2003 JP
発明の名称: (EN) THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING DEVICE, IMAGING DEVICE, AND THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE FORMES TRIDIMENSIONNELLES, DISPOSITIF D'IMAGERIE, ET PROGRAMME DE MESURE DE FORMES TRIDIMENSIONNELLES
(JA) 3次元形状検出装置、撮像装置、及び、3次元形状検出プログラム
要約: front page image
(EN)Three-dimensional shape measuring means comprises light-projecting means for projecting a pattern light, imaging means for capturing a pattern light projection image of an object onto which the pattern light is projected, pattern light position extracting means for extracting the position of the pattern light referring to the pattern light projection image, three-dimensional shape calculating means for calculating the three-dimensional shape of the object according to the position the pattern light, storage means storing color value data on the pattern light projection image, hue parameter calculating means for calculating a hue parameter, for each pixel, corresponding to main hues constituting the pattern light from the color value data, luminance parameter calculating means for calculating a luminance parameter, for each pixel, from the color value data, and pattern light detecting means for detecting pixels including the pattern light from the pattern light projection image by using the luminance parameter and the hue parameter. The pattern light position extracting means extracts the position of the pattern light referring to the pixels including the pattern light.
(FR)L'invention porte sur un moyen de mesure de formes tridimensionnelles comprenant un moyen de projection de lumière afin de projeter une lumière formant un motif, un moyen d'imagerie afin de saisir une image de projection de lumière formant un motif d'un objet sur lequel la lumière formant un motif est projetée, un moyen d'extraction de position de lumière formant un motif afin d'extraire la position de la lumière formant un motif qui se rapporte à l'image de projection de lumière formant un motif, un moyen de calcul de formes tridimensionnelles afin de calculer la forme tridimensionnelle de l'objet selon la position de la lumière formant un motif, un moyen de stockage qui stocke les données de valeur de couleur sur l'image de projection de lumière formant un motif, un moyen de calcul de paramètre de teinte afin de calculer un paramètre de teinte, pour chaque pixel, correspondant aux teintes principales constituant la lumière formant un motif à partir des données de valeur de couleur, un moyen de calcul de paramètre de luminance afin de calculer un paramètre de luminance, pour chaque pixel, à partir des données de valeur de couleur, et un moyen de détection de lumière formant un motif afin de détecter des pixels comprenant la lumière formant un motif à partir de l'image de projection de lumière formant un motif au moyen du paramètre de luminance et du paramètre de teinte. Le moyen d'extraction de la position de lumière formant un motif extrait la position de la lumière formant un motif qui se rapporte aux pixels comprenant la lumière formant un motif.
(JA) 3次元形状検出手段であって、パターン光を投光する投光手段と、パターン光が投光される状態における対象物体のパターン光投光画像を撮像する撮像手段と、撮像手段によって撮像されたパターン光投光画像に基づき、対象物体に投光されたパターン光の位置を抽出するパターン光位置抽出手段と、パターン光位置抽出手段で抽出されたパターン光の位置に基づき、対象物体の3次元形状を算出する3次元形状算出手段と、撮像手段で撮像されたパターン光投光画像の色値データを記憶する記憶手段と、記憶手段に記憶された色値データに基づき、パターン光を構成する主な色相に対応する色相パラメータを画素単位で算出する色相パラメータ算出手段と、記憶手段に記憶された色値データに基づき、輝度パラメータを画素単位で算出する輝度パラメータ算出手段と、輝度パラメータ算出手段により算出される輝度パラメータと色相パラメータ算出手段により算出される色相パラメータとを用いて、パターン光投光画像内からパターン光を含む画素を検出するパターン光検出手段とを備える。パターン光位置抽出手段は、パターン光検出手段で検出されるパターン光を含む画素に基づいて、パターン光の位置を抽出する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)